工具/软件:
TPSF12C1 用于测试以下滤波器电路。 电路和连接方法如下图所示:

没有 TPSF12C1 电路时的 DM 测试结果

TPSF12C1 电路的 DM 测试结果

X 电容器和 CM 线圈保持不变、只是增加了 TPSF12C1 电路。 虽然共模噪声降低、但差模噪声显著增加。 这可能是什么原因? 是否有办法解决这个问题?
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您好 Naresh、
该系统主要受共模噪声的影响。 未连接 TPSF12C1 时、差模噪声符合标准、但共模噪声超出标准。 在 500K、5M 和 26M 时、共模噪声超过标准值。 这不是 OBC 系统、而是电机驱动系统。 开关频率为 65K。
根据测试结果、连接 TPSF12C1 后、差模噪声恶化。 最初、差模噪声在标准范围内、但连接 TPSF12C1 后、它大幅超出了标准。 我想了解解决问题的原因和方法? 如果解决一个问题导致其他问题、则会对我的系统不利。
谢谢。此致、
Hongxing
通常不建议在未首先在快速入门计算器中运行初始评估的情况下使用 TPSF12C1 器件。
您是否在快速入门计算器中输入了系统、并验证了包含 AEF 时 AEF 环路是否稳定?
我附上了该工具、请输入您的系统参数并将结果分享给我们。
此外、我们建议为 AEF 配置平衡滤波器、此时两个 cm 扼流圈都具有相似的对称值。 这有助于使系统在 AEF 运行时更容易实现稳定。 我们注意到、您的当前设计使用了 0.5mH 和 6mH 扼流圈值。
您的 X 电容器的值是多少? 您是否尝试过提高这些指标并观察其影响?
扼流圈详细信息:使用哪种类型的扼流圈(铁氧体或纳米晶)? 它们的特点是在整个频率范围内测量阻抗和相位吗?
请告诉我这些问题的答案。
谢谢。此致
Naresh
e2e.ti.com/.../TPSF12Cx_2D00_Q1_5F00_quickstart_5F00_calculator_5F00_B1-_2800_1_2900_.xlsm
您好、Hongxing、
在使用铁氧体扼流圈和不平衡扼流圈值(0.5mH 和 6mH 扼流圈值)的情况下、不建议使用 AEF。 它不能在系统中工作、也无法通过采用 AEF 实现稳定的环路。
我们建议仅使用纳米晶扼流圈、并为电网侧和常规侧扼流圈使用相同的值。
此外、如您所述、X 电 μF 的电容分别为 0.47 μ F(μF μ F)、0.47 μ F(μF μ F)和 0.33 微法拉 (1 μ F)。 这些值非常低、通常建议 X 电容器使用量级为 2 微法拉的值。 当您更改扼流圈时、能否还增加 X 电容值并进行检查?
希望这些信息有所帮助。 请检查并告知我们。
谢谢。此致、
Naresh
尊敬的 Hongxing:
使用其他方法无法轻松评估稳定性。
要独立检查 AEF 的运行、您可以使用如下所示的低压测试方法

断开 OBC、使用此处所示的函数发生器输入、并测量您使用的电路板的 SENSE 和 INJ 引脚波形。
还有一个问题:我们目前不建议将这些设备用于 OBC 系统以外的其他系统。 系统的总 Y 电容预算是多少? 这是否受触摸电流规格的约束? 请告诉我
另外、您能否尝试上述测试方法来评估功能
谢谢。此致、
Naresh