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[参考译文] BQ27Z758:尽管电池和 PACK 连接有效、FET (CHG/DSG) 仍不会导通

Guru**** 2551110 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ27Z746, BQSTUDIO, BQ27Z758, BQ27Z561

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1563994/bq27z758-fets-chg-dsg-not-turning-on-despite-valid-battery-and-pack-connection

器件型号:BQ27Z758
主题中讨论的其他器件:BQSTUDIOBQ27Z561、BQ27Z746

工具/软件:

您好:
我正在使用 BQ27Z758YAHR 使用两个外部 NFET 配置 EFC2J013NUZ (背对背,共漏极)。 该电路与数据表中的参考原理图基本相同(约第 24 页)。

测试条件和观察结果

  • 电池: 单节电池、3.95V、1500mA

  • 电池包: 由设置为 4.2V 的台式电源供电、限流(未观察到负载)

  • BAT_SP = 3.57V BAT_SN = 0.00V

  • DSG = 3.74V 一方 PACK = 4.2V →栅极是 低于电池组 (使 NFET 保持关断)

  • CHG: 在此设置中未测量

  • VDD = 3.95V BAT = 3.95V

  • ENAB = 3.57V (也尝试将其强制为低值,无改进)

  • TS: ~612mV 时的脉冲为~8ms(似乎正常)

在这些情况下、外部 FET 会保留 迷惑不解 (PACK+与 BAT+隔离)。

I²C 请注意
现在,我有了 未实现 I²C 通信 。 。 SDA SCL 所在位置 0V (未安装上拉电阻器)。 我想知道没有 I²C Ω/上拉电阻器本身是否会阻止 FET 被启用、或者是否只需要 I²C Ω 即可读取/清除 锁存故障

我正在连接 原理图 规划 以免我忽略了一些东西。

感谢您发送编修。

Giulio Montanari

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    您好:

    此问题已分配、并将在可能的情况下进行审核。

    谢谢您、
    Alan

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    我正在等待更新!

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    您需要开启电量计(PACK 上的短暂电压)。 然后、您需要确保正确配置电量监测计以提供保护。 确保 FET 已启用。 请参阅 TRM https://www.ti.com/lit/ug/sluud50/sluud50.pdf:

    第 4 和 16.2.20 章。

    如果正确配置、I2C 电平不会影响这一点。

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    您好 Dominik、
    我是分配给该工程的固件开发人员。 我对您链接的 TRM 有几个问题。
    首先、SafetyStatus 寄存器会被多次引用、但不存在于寄存器列表中(在命令列表中指示为 0x0051,但不提供进一步说明)。 我认为、为了正确诊断保护问题、我需要了解位布局。
    其次、我知道我需要根据我们的目的配置保护阈值、但第 4.2.6 节规定:
    “这些数据闪存参数的更新必须手动完成、并且不会影响基于硬件的保护功能的运行。 相反、这些参数会记录出厂设置所做的任何更改、并提供阈值目标的易于读取格式。“
    因此、我知道更改此值没有任何影响、因此我不确定应如何继续。

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    经过深入挖掘后,我可以确认我一直在分析`SafetyStatus ()`寄存器,因为 TRM 完全忽略了它的位布局。 我现在可以看出、我的器件不让电池充电或放电(通过`OperationStatus ()`寄存器的位`XCHG`和`SXDSG`确认)、并且` afetyStatus ()`读取为 0x0001。 我可以从哪里获得信息?

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    大家好、Mattia 的问题可以回答吗、谢谢。

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    bqStudio 显示了 SafetyStatus () 的位布局:

    SafetyStatus1 () 的 0x0001 表示 CUV、Cell 欠压
    对于 SafetyStatus2 ()、0x0001 表示 OTF、过热 FET

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    这对改善我的情况没有太大的作用。 对于初学者、TRM 仅显示一个 SafetyStatus 寄存器、为什么 bqStudio 中有两个? 我已经尝试下载过、但当我打开并询问我使用的特定器件时、我找不到 BQ27Z758;最接近的可用代码是 BQ27Z561、它不起作用 (“所选器件与此应用程序不兼容“)。 那么为什么它被列出了?)。
    我关于第 4.2.6 节的问题是什么?
    这是稳定/受支持的器件吗? 为什么文档缺少那么多信息?

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    我是一个完全的损失。 当前、IC 同时报告充电和放电均已禁用(位 XCHG 和 XDSG)、并且电池正在放电(位 DSG)。 位 BTP_INT 被置位、报告的 RSOC 为 3%、但我不知道如何清除它。 按建议写入 BTPChargeSet 和 BTPDischargeSet 不会执行任何操作。SafetyStatus[) 完全清除。
    在尝试其他寄存器时、我意识到 ManufacturingStatus () 中的 FET_EN 位已关闭(在位布局中提到但标记为“保留“);切换 FET_EN 后、XCHG 和 XDSG 被清除、但充电电流仍接近零。 现在它随机进入“永久性故障“、我不确定是禁用它还是认为硬件有问题。

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    请将此文件从 bqStudio 复制到 config 文件夹中: e2e.ti.com/.../1758_5F00_0_5F00_01_2D00_bq27z758.bqz

    除非 TI 建议、否则请勿手动选择电量计。 大多数(并非所有)电量监测计都需要特定的.bqz 文件、以确保地址映射正确。

    bq27z758 是 bq27z746 的 1.2V IO 版本。 这不是 bq27z561(该器件没有保护器)。

    TRM 是一个相当静态的文档、有时 TI 会发布固件更新、其中可能会拆分一些参数。 TRM 中的 SafetyStatus () 文档仍适用于 bq27z758、但是、保存此信息的实际寄存器会拆分为两个 16 位字、因此有两条命令。 SafetyStatus1() 和 SafetyStatus2()。 位的含义与 TRM 中描述的相同。 例如、如果您读取 SafetyStatus ()[PTO]、则会转换为 SafetyStatus2 ()[PTO]、这是 16 位字的位 2。

    关于 BTP:如果仍满足 BTP 的条件、则发出的命令不会执行任何操作、因为电量监测计将在下一秒内重新使 BTP INT 生效。

    约 4.2.6:硬件保护器不受固件控制。 相反、它使用自己的二进制映像、您必须根据以下应用手册对其进行编程: https://www.ti.com/lit/pdf/sluaao1。 数据闪存值实际上仅用于记录保存。 功能本身位于保护器图中。 其技术原因是硬件块本身需要在 bqStudio 中校准期间生成的压缩格式。 校准完成后、您必须从电量计中获取此映像、将其存储在计算机上、然后在生产期间对其进行编程、以便正确配置硬件本身。

    在 ManufacturingStatus () 中不保留 FET_EN:

    请使用正确(随附)的.bqz 文件来确定 PF 原因。 它将显示在 PF Alert/Status 中。