Other Parts Discussed in Thread: BQ25792, TPS25751
器件型号： BQ25792
主题中讨论的其他器件： TPS25751 –01 和 USB-PD-CHG-EVM
您好：
我正在设计与配对的定制设计 TPS25751D （PD 控制器）与 BQ25792 （充电器）。 我的设计主要基于参考设计 USB-PD-CHG-EVM –01 (https://www.ti.com/lit/ug/tiduey1c/tiduey1c.pdf)。
我遇到了一个关键问题、在 TPS25751 刷写应用程序固件后、BQ25792 似乎无法通过启动鉴定序列。
硬件配置：
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拓扑： 仅 VBUS 输入（无外部 ACFET/RBFET）。
- 原理图： Terminator_PD_Controler.pdf Terminator_Battery_Charger_IC.pdf
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连接：
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TPS25751 PPHV 直接连接到 BQ25792 VBUS。
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BQ25792 VAC1 和 VAC2 直接短接至 VBUS。
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BQ25792 ACDRV1 和 ACDRV2 连接到 GND。
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电池：3s 配置。
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QON 和 INT 引脚当前悬空。
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问题（电路板 1）： 此电路板刷写了通过 TI Web GUI 为 TPS25751 生成的配置。 “USBCPD_V1.0.2"<xmt-block0>“ Application_Customization_Tool
环境： 这些电路板是全新的、全新的 SMT 装配线。 首次加电（连接 USB +电池）时、我注意到一股明显的热电子设备气味、持续了大约 5-10 秒。 虽然这有时可以归因于新 PCB 上的制造残留、但后续行为表明潜在的故障。
现在、当通过 USB（5V 电源）供电时、BQ25792 会表现出以下行为：
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REGN 升至~5V。
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大约 400ms 后、REGN 降至 0V。
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该循环完全重复 7 次 。
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在第 7 次尝试后、REGN 保持锁存为 0V（（Hi-Z 模式？）。
重要的是： 我进行了监控 VBUS 在 BQ25792 输入引脚进行这 7 次尝试期间、显示器连接到 BQ25792 输入引脚。 VBUS 在 5V 时保持完全稳定 无突降。
比较（电路板#2 — 维珍）： 我有另一个相同的电路板从同一个装配批次 从未刷新 （TPS25751 EEPROM 为空/默认值）。
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由 USB 供电时、 REGN 上升到 5V 并保持稳定 。
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这表明硬件路径有效、但一旦 TPS25751 固件控制或配置 BQ25792、就会触发问题。
调查：
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“7 次重试“行为与匹配 “不良源鉴定“ BQ25792 数据表（第 9.3.4.2 节）中描述的故障。
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然而、由于 VBUS 在示波器上保持稳定、因此源实际上并不是很差。
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我测量了有故障电路板上 REGN 和 GND 之间的电阻： 7.7k Ω 、因此 LDO 看起来不会对地短路。
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问题：
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如果 VBUS 在示波器上保持稳定、为什么 BQ25792 会触发不良源故障（7 次重试）？
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TPS25751 默认固件配置是否可以强制 BQ 进入导致初始过热（气味）和后续损坏的状态？
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在启动循环期间、我是否应该通过 I2C（使用外部 MCU）检查特定的寄存器、以识别 BQ 正在检测到什么故障？
感谢您的帮助。
