Other Parts Discussed in Thread: LMG2656
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器件型号: LMG2656
尊敬的团队:
我的客户希望使用 LMG2656 替换他们的高电压 MOS 和驱动器、他们有成熟的电机控制算法、我想知道:
- 在此替换过程中需要更改什么参数?
- GaN 是否会帮助改善米勒效应?
谢谢!
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嘿 Kailun、
使用 GaN 器件替代 MOSFET 时、有一些重要差异。
1. GaN 器件通过通道而不是体二极管反向传导电流。 当反向施加电流时、源极和栅极电势被驱动至高于漏极电势、此时通道开始导通。 (本文中有更多详细信息:www.ti.com/.../snoaa36.pdf)。 由于 GaN 器件会通过通道而不是二极管导通、因此没有反向恢复时间、因此死区时间可能会大幅缩短。 反向导通时的压降高于体二极管、因此在这种模式下、必须尽量缩短时间、例如尽可能缩短死区时间。
2. GaN 的低电容和 集成 GaN 器件在栅极环路路径中的寄生效应非常低、因此我们没有遇到米勒接通的问题。
此致、
Kyle Wolf