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[参考译文] LMG2656:使用 GaN 替换高压运算

Guru**** 2769425 points

Other Parts Discussed in Thread: LMG2656

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1601570/lmg2656-replace-high-voltage-mos-with-gan

器件型号: LMG2656

尊敬的团队:  

 

我的客户希望使用 LMG2656 替换他们的高电压 MOS 和驱动器、他们有成熟的电机控制算法、我想知道:  

  1. 在此替换过程中需要更改什么参数?  
  2. GaN 是否会帮助改善米勒效应?

谢谢!  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嘿 Kailun、

    使用 GaN 器件替代 MOSFET 时、有一些重要差异。

    1. GaN 器件通过通道而不是体二极管反向传导电流。 当反向施加电流时、源极和栅极电势被驱动至高于漏极电势、此时通道开始导通。 (本文中有更多详细信息:www.ti.com/.../snoaa36.pdf)。 由于 GaN 器件会通过通道而不是二极管导通、因此没有反向恢复时间、因此死区时间可能会大幅缩短。 反向导通时的压降高于体二极管、因此在这种模式下、必须尽量缩短时间、例如尽可能缩短死区时间。  

    2. GaN 的低电容和 集成 GaN 器件在栅极环路路径中的寄生效应非常低、因此我们没有遇到米勒接通的问题。

    此致、
    Kyle Wolf