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[参考译文] BQ27426:有关 bqStudio 配置的信息

Guru**** 2826755 points

Other Parts Discussed in Thread: BQ27426, BQSTUDIO

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1611327/bq27426-regarding-bqstudio-configuration

器件型号: BQ27426
主题: BQSTUDIO 中讨论的其他器件

尊敬的团队:

客户正在使用我们的 bq27426、并尝试通过 bqStudio 配置 CC Gain 和 CC Delta。

但似乎在 CONFIG CC Gain 和 CC Delta 时遇到了错误。 您能帮助检查并提供建议吗? 谢谢。


不同应用  bq27426  并使用来执行电流校准 bqStudio

在跨多个 DUT 进行校准期间、我们观察到一致的结果:

  • CC 增益  收敛 0.0757 ~ 0.0777  (平均值~0.076)
  • CC Delta (CC Delta)  收敛 ~90k

但是、当尝试手动修改时 CC 增益  或 CC Delta (CC Delta)  指定
Data Memory→Calibration→CC Cal 、在以下所有情况下均会阻止写入:

1.在 bqStudio UI 中直接编辑
错误消息、例如“value is been minimum value defined for parameter“
并拒绝写入。

 

2.导出→修改 CSV→导入
导入失败并且不写入参数。

 

此外、在尝试修改后 CC 增益 、任何进一步的修改尝试
CC Delta (CC Delta)  得到

“器件无确认“
消息、指示在器件级别拒绝写入。

因此、 无法通过任何 bqStudio 接口手动修改 CC Gain 和 CC Delta

请参阅随附的屏幕截图:

  • 无法修改 CC 增益
    Unable_to_modify_CC_Gain.png
  • 无法修改 CC Delta
    Unable_to_modify_CC_Delta.png

此致、

Terry

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好:

    此问题已分配给团队内部、并将在  可能的情况下由应用工程师进行审核和跟进。 在此期间、请附加与项目关联的任何.log/.gg 文件

    谢谢您、
    Alan  

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    这是因为、bqStudio 将最小/最大阈值应用到 CC 增益和所有其他参数(如果您想手动更改它们)。 如果校准功能计算超出该范围的值、则 bqStudio 不会强制执行这些阈值。

    您使用的是非常大的检测电阻吗?

    您可以使用高级通信直接从数据存储器中读取 CC 增益的 4 个字节、这为您提供了 4 个字节、对应于校准生成的 CC 增益浮点值。 然后、您可以通过高级通信将这 4 个字节写回电量计(使用 TRM 中所述的数据存储器写入访问序列)。 这绕过了最小/最大限制。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Dominik:  

    ANN 帐户无法回复您。 请查看我们的测试。  

    1、如何使用高级通信读取/写入?

    我参考了 TRM 中的表 6-1 扩展命令和第 7.4.5.2.1 节库仑计感应电阻器 (CC) 偏移、增益、增量、并按照高级通信接口中的以下步骤尝试读取 CC Offset、CC Gain 和 CC Delta。

    a.起始寄存器= 61、要写入的字节= 00→写入
    B.起始寄存器= 3E、要写入的字节= 69 00→写入(子类 105)
    C.起始寄存器= 3F、要写入的字节= 00→写入(块偏移 0)
    d.起始寄存器= 40、要写入的字节=空→读取、要读取的字节数= 32

    已读回以下数据:
    00 00 0B D6 7D 1A F7 4D 91 30 51 20 00 00 00 00
    00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00

    应该如何解释这些数据?
    上述步骤是否有任何问题?

    2.您使用的是非常大的感应电阻器吗?

    这是一个后续问题。

    在校准期间、使用了直流加载程序施加 1A 电流。
    校准后、CC 增益约为 0.2194、CC Delta 为 261754.4063。

    在将校准后的×表应用到采用 1S3P 电池配置的产品后、我们发现电量计报告的电流大约比实际测量的电流高 3 μ A。
    因此、在校准期间、施加的电流除以 3(即 333mA)、从而使 CC 增益值小得多。

    这种行为在我们看来也是不寻常的。
    你对此有何建议?

    CC Terry Hu Ann Hu 

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    CC 增益位于偏移 4 处。 示例中的数据是 7D 1A F7 4D。 这是 Xemics 格式的浮点数等于的 4 字节十六进制表示  0.0756670013.
    电量监测计会自动计算 CC Delta、因此您可以忽略该值。 只需设置 CC 增益。

    您可以使用以下电子表格在 Xemics 浮点和十六进制之间进行转换: e2e.ti.com/.../5504.Float.xlsm

    写入值要复杂一些、因为您必须计算校验和。 您可以按照 TRM https://www.ti.com/lit/ug/sluubb0/sluubb0.pdf 4.1 数据存储器参数更新示例中的示例操作、也可以使用 https://www.ti.com/lit/SLUA801 中所述的整个块更新

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    校准与并联电芯数量无关。 电量监测计只需测量检测电阻上的压降、bqStudio 即可计算 CC 增益系数、该系数将 CC ADC 的 16 位整数结果转换为以 mA 为单位的电流。

    电流偏离系数 3 时、您一侧必须出现校准设置问题。

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    尊敬的 Dominik:

    感谢您的帮助、我们现在就可以解决了。

    目前、我们正在使用 TI FAE 以 ChemID 2141 为基准提供的电量监测计表。
     
    在相同的检测电阻配置下、我们在通过检测电阻施加 1A 负载的情况下执行校准、并且在校准期间未应用调节(例如/3)。
     
    校准后、CC Gain/CC Delta 的变化看起来是合理的且自一致。
    但是、在系统级、我们仍然可以观察到电量监测计报告的电流略高于预期。
     
    如果校准本身正确、我们希望帮助您查看是否配置了与电流相关的参数(例如电流阈值,锥度速率,退出电流)
    或者我们可能忽略了任何隐式假设或使用场景。
     
    作为参考、我们附上:
    • “TI FAE (ChemID 2141) 提供的原始测量仪表“
    • '校准仪表(1A 校准,无调节)'
    • “原始表和校准表之间的比较“
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    0.054 的 CC 增益似乎很低。 您使用的是什么检测电阻?

    VatChgTerm 取决于电量监测计检测到充电终止时测得的电压。 它看起来是合理的、但必须在电流降至低于 Taper Rate 给出的电流时查看电压测量值。

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    谢谢、这回答了我的问题