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[参考译文] UCC5870-Q1:UCC5870-Q1 -栅极电压监控

Guru**** 669750 points
Other Parts Discussed in Thread: UCC5870-Q1
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1073865/ucc5870-q1-ucc5870-q1---gate-voltage-monitoring

部件号:UCC5870-Q1

尊敬的 TI 专家:

我们目前正在评估 UCC5870-Q1栅极驱动器 IC 与 SiC MOSFET 的组合。
出于安全原因,我们的目标是监控 MOSFET 栅极尽可能靠近真实设备的电压。
在评估过程中,提出了以下问题:

) 请确认,Vgth Monitor 只能在配置模式下运行,而不能在活动模式下运行。 因此,在有源负载的情况下无法进行 Vgth 测量。

2) TI 网站上的文档 slyp764显示了第29页上的栅极电压监控电路,该电路可感应电源开关上外部栅极电阻器后的电源开关栅极电压。
遗憾的是,我们在数据表 SLUSD86C 中找不到有关此电压监控的任何说明。 图7-31仅显示了在栅极电阻器之前感应到电压的电路。
请提供一些其他信息吗?
例如:哪个针脚用于浇口电压监控? 必须使用哪种软件配置? Vbst 扮演的角色是什么?

(第3条) SLUA883 (03/2020)中 SM24和 SM25的功能是否与数据表中的图7-31相同?
SLUA883中的连接可能连接错误?

对此,我要表示诚挚的感谢

Andreas Storbeck

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    安德烈亚斯您好

    感谢您联系 E2E!

    门限值监控功能旨在用作早期故障检测机制。 在电源开关(SiC,IGBT 等)的使用寿命内,正常操作的应力将会使开关的超时性能变差。 随着时间的推移,开关的老化可能导致阈值电压的增量。 通过测量门限值并查看随着时间推移的增量,客户可以跟踪交换机的运行状况。 每次系统操作只能进行一次此测量,但客户通常会认为适合。

    要回答您的问题:

    1. VGTH 测量只能在配置2模式下完成,而不能在活动模式下完成。 此测量不应在有源负载的情况下进行。 在系统正常运行前通电期间,将测量开关打开并开始执行的阈值。 此门限值将随着时间的推移进行测量,以使用阈值电压的增量来预测电源开关的运行状况。
    2. 数据 表的7.3.5.14 VGTH 监视器部分介绍了门限值监控功能。 当切换命令 Control2[VGTH_MEA]位以启用测量时,将打开从 Desat 引脚到 outh 的内部 FET,以使 Desat 电流源为电源开关的门充电(图7-33)。 一旦电源开关充电到阈值电压,电源开关将开始工作。 进行脱饱和电流源后,将通过外部脱饱和电路重新路由到电源开关的漏极/收集器中(图7-34)。 此时,浇口处的电压将保持在电源开关阈值电压下,允许 ADC 测量通过引脚的浇口电压。 该电压将存储在 ADCDATA8寄存器中,供 MCU 读取 SPI。 测量完成后,电流源将停止使浇口再次降低,Control2[VGTH_MEAS]将自动切换回禁用状态。 整个测量需要~2.5毫秒。
    3. 门限值测量和门电压监测是两个不同的功能。 门限值如我在上述答案2和 数据表7.3.5.14 VGTH 监视器部分中所述。 数据表的7.3.5.13节“栅电压监测和状态反馈”中介绍了栅电压监测,目的是在输出状态不是由 PWM 输入(in+/in-)确定的预期状态时提醒 MCU。

    我认为两种不同的功能(门限值监控与门电压监控)之间存在一些混淆。 我希望上述信息有助于澄清这两个问题。

    如果目的是在正常操作期间测量门电压,最好使用6个 ADC 模拟输入(AIX 引脚)中的一个。 要了解有关 UCC5870-Q1 ADC 功能的更多信息,请参阅 数据表中的第7.3.3节“前端模拟(FEA)信号处理的集成 ADC”。

    如果还有其他问题,请告诉我。

    此致,

    Andy Robles