请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
部件号:CSD17308Q3 “线程: 测试”中讨论的其它部件
CSD17308Q3的 REACH 状态被列为“受影响”,但我无法找到有关此问题的更多文档。 本设备的受限化学品测试结果报告仅限于 RoHS,不涉及 REACH 限制。 是否有任何其他文档解释了哪些化学品或化学品会导致此部件的 REACH 状态?
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
CSD17308Q3的 REACH 状态被列为“受影响”,但我无法找到有关此问题的更多文档。 本设备的受限化学品测试结果报告仅限于 RoHS,不涉及 REACH 限制。 是否有任何其他文档解释了哪些化学品或化学品会导致此部件的 REACH 状态?
您好 Steve,
感谢您对 TI FET 的关注。 CSD17308Q3使用含铅焊料实现与硅片芯片的内部互连。 这是 TI 和其他电源 MOSFET 供应商的常见做法。 您可以在产品文件夹的订购和质量部分访问此设备的材料内容,并在质量,可靠性和包装信息下单击查看或下载。 要在 Web 上访问受影响的状态,请执行以下操作:
下面是一篇技术文章的链接,该文章解释了哪些 TI FET 封装在互连中使用引线。
https://e2e.ti.com/blogs_/b/powerhouse/posts/what-does-a-lead-free-power-mosfet-really-mean
此致,
约翰·华莱士
TI FET 应用