您好,
我们必须使用TPS5.1124万更改现有设计中的顶部FET。
当使用数据表中给出的最小死时间(10ns / 30ns)检查切换时,由于顶部FET的关闭时间过长,新的顶部FET可能会出现直通。
对于我的问题:数据表提供了死时间,最小/典型/最大值的信息。 这些是固定值吗?
换言之,设备中是否实施了固定的死时间,或者是否使用了自适应/交叉耦合技术来防止射通,因此使用新FET不会有问题?
提前感谢!
Oliver
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
您好,
我们必须使用TPS5.1124万更改现有设计中的顶部FET。
当使用数据表中给出的最小死时间(10ns / 30ns)检查切换时,由于顶部FET的关闭时间过长,新的顶部FET可能会出现直通。
对于我的问题:数据表提供了死时间,最小/典型/最大值的信息。 这些是固定值吗?
换言之,设备中是否实施了固定的死时间,或者是否使用了自适应/交叉耦合技术来防止射通,因此使用新FET不会有问题?
提前感谢!
Oliver
Oliver
是的,TPS5.1124万实现了自适应栅极驱动停机时间控制。 这显示在功能方框图的数据表中(第7.2 节)
在从高压侧关闭到低压侧打开的转换过程中,高压侧门驱动电路监控LL至HDRV电压,并禁止LDRV上拉直至HDRV至LL电压降至1V以下。 一旦检测到高侧门驱动电压(HDRV - LL)低于1V,比较器输出电平必须切换至低侧FET。
为了最大限度地提高这种死时控制的有效性,必须将HDRV和LDRV栅极驱动信号的外部串联电阻降至最低。 这些电阻使HDRV感应电压下降速度快于 实际MOSFET栅电压。
但是,您看到HDRV上潜在的死时控制违规下降到LDRV上升的情况并不常见,在这种情况下,低侧FET的打开速度通常比高侧FET的关闭速度慢。 但自适应停用时间控制电路可确保部分高侧FET关闭时间在低侧FET开始开启之前发生。
尊敬的Peter James:
非常感谢对停机时间控制功能的解释!
还有一件事对我来说还不是很清楚。 在数据表中:
- DRVHx-low (DRVHx = 1 V)至DRVLx-on = 20ns (典型值)的死机时间
-死机时间DRVLx-low (DRVLx = 1 V)至DRVHx-on = 40ns (典型值)
第一个是从高侧关闭到低侧打开转换,对吗? 这里,此死时间比第二个死时间(从低侧关闭到高侧打开)小,而第一个应该比您提到的第二个大。 还是以其他方式理解数据表中的文本?