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[参考译文] BQ27Z561:高温和低温冲击测试会导致 TS 引脚损坏

Guru**** 2538950 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ27Z561

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1125197/bq27z561-high-and-low-temperature-impact-test-cause-ts-pin-damage

器件型号:BQ27Z561

您好!   

     ℃对内含 BQ27Z561的电池组进行高温和低温测试。在-40℃内保持几个小时、然后切换到70℃并保持几个小时。在10个或更多周期后、TS 读数报告错误(186 μ s)

并且无法通过更改 外部 NTC 或复位来恢复、(错误读数仍然为)。

      根据数据表、最低工作环境温度为-40。因此、如果在这种极端温度下存在任何损坏内部电路的风险、 到目前为止、在试运行中已经报告了2个具有相同问题的器件。          

     另一个观察结果是、通过更改 Rint 值、TS 读数将发生变化。通过阅读 TRM、第12.3.4章 "电池温度模型"不会给出清晰的说明。但这与 热敏电阻相关、您能否提供有关此模型的更多信息、 以及如何进行参数设置? 谢谢。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Yue、

    如果以绝对最大额定值运行器件、可能会对器件造成永久损坏。 我不会在接近或低于绝对最大温度阈值的情况下工作。 要确认它是硬件、您可以尝试重新刷写 SREC。

    RINT 是内部 电阻估算值、不应更改默认值。

    此致、

    Wyatt Keller

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    Wyatt、

            根据 TRM、 如果使用不同的热敏电阻并提到"应用报告"、这些参数将会更新。 在哪里可以找到? 您能?一下这是否与外部热敏电阻有关   

    在本例中、EC 是 Xiaomi、我今天将访问以解释此案例、请尽快确认。感谢您的支持。  

            

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    您好、Yue、

    他们应该能够在此处使用相同的计算器: https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/434108/bq40z50-thermistor-coefficients

    两个监测计具有相同的偏置模型和多项式拟合。

    此致、

    Wyatt Keller