This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] BQ27Z561-R1:校验和有效

Guru**** 664280 points
Other Parts Discussed in Thread: BQSTUDIO, BQ27Z561
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1121481/bq27z561-r1-checksum-valid

器件型号:BQ27Z561-R1
主题中讨论的其他器件:BQSTUDIOBQ27Z561

尊敬的专家:

 什么是 PF 条件?

BQ27Z561R1将监控电压并禁用闪存写入? 哪个电压电平将触发这种情况?

谢谢

在 ControlStatus() CheckSumValid (位9)中:校验和有效
1 =使能闪存写入。
0 =由于低电压或 PF 条件、闪存写入被禁用。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的专家:

    客户已经制造了300块电路板。 运行  几天后、3个 BQ27Z561R1 ControlStatus CheckSumValid (位9)变为0。 它们 的闪存无法从主机或 BQtudio 写入。

    需要您的指导、什么可能导致  CheckSumValid 变为0。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Ryan、

    PF 条件可以指与电流、电压或温度相关的各种永久性故障条件。 会触发一些 PF 或电池电压过低。 如果您可以提供一个.log 文件、说明发生这种情况的时间、我可以查看所有 PF 寄存器的状态和电池电压。

    谢谢、

    杰克逊

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    杰克逊

    我今天将向您发送日志。

    我们可以禁用此  CheckSumValid 进行测试吗?

     0x00 / 0x01 ManufacturerAccess() / ControlStatus   寄存器是否可写?  

    我们发现、即使我们无法写入 bqstudio 数据存储器、但仍可以重新编程整个 srec 文件。 这是预料之中的吗? 在 srec 重新编程后 、CheckSumValid 仍然为0、 无法写入数据存储器 stil。

    闪存使用1.8V 的内部 LDO 进行编程、还是使用一些内部高电压?

    谢谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    杰克逊

    BTW、当这种现象发生时、它在客户系统中是永久性的。 将器件转售给 TI EVM 后、它会显示为"密封"状态 、并在我们对其进行解封后变为正常状态。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    杰克逊

    在客户环境中、有时其电池可能会降至2.3V、在测试设置期间外部 NTC 可能无法连接。 但是当一切都恢复正常时 ,CheckSumValid=0不应该 是永久性 的,对吧?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    杰克逊

    很抱歉、有这么多问题、客户批量生产流程正等待解决此问题。

     当监测计监测某些硬件(电压、电流、温度)故障或在闪存写入操作期间计算闪存数据校验和故障时、CheckSumValid 设置为0?

     电压、电流、温度是否有任何阈值?

    谢谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    杰克逊

    这种 BQ27Z561R1共有3个。 其中一种现象在"软复位"之后消失(CheckSumValid 返回1、并且可以写入数据存储器)。 但大约40分钟后、问题再次出现。 下面是40分钟内的日志 。GG 文件也随附。

    其他两种 BQ27Z561R1现象是永久性的。 只能通过在 TI EVM 中重新编程 srec 文件来恢复它们。

    谢谢

    e2e.ti.com/.../2_23002D002D00_fcc_2D00_yichang_2D002D00_1711.log

    e2e.ti.com/.../reg_2D00_log_2D002D00_2_23002D002D00_fcc_2D00_yichang_2D002D00_1713.gg.csv

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    杰克逊

    由于客户无法停止大规模生产、因此他们希望知道风险。 如果无法在现场写入闪存、 我们的监测算法是否需要频繁写入闪存? 或者、我们的算法仅在 RAM 上运行、那么这不会对终端客户造成太大的影响、对吧?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Ryan、

    很抱歉、现在就这么做了。 让我在明天首先深入了解所有这些问题、这样我就有时间为您提供所有问题的深入答案。

    谢谢、

    杰克逊

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    杰克逊

    由于此问题、客户批量生产正在等待处理、他们希望在下星期一与您进行交谈。  

    有可能吗?

    非常感谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Ryan、

    我星期一下午是免费的。 请随时在我的日历上安排会议、我们可以讨论所有这些问题。  

    此致、

    杰克逊

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    杰克逊

    我将预订您的日历。

    您仍需要提前提供上述所有问题的答案、以提高会议效率。

    谢谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Ryan、

    让我在这里总结一些信息。

    无法直接写入数据闪存。 尝试这样做可能是导致此错误的原因。 直接在 BQStudio 中更改值时、有一个将值写入物理参数地址的底层序列。 写入更改数据闪存值的过程可在 BQ27Z561 TRM 的第13.2.48节中看到。 为了解决客户的问题、可以在现场写入闪存、但并不像读取数据块那样以相同的方式完成闪存。

    就 PF 问题而言、如果电池电压降至2.3V、这可能会触发 PF、从而完全锁定器件写入或充电/放电。 仅当启用 PFS 时才会发生这种情况。

    谢谢、我期待在明天的电话会议上与您讨论、

    杰克逊

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    杰克逊

    非常感谢您在午夜与您在一起。

    在通话过程中、您需要以下问题的帮助:

    TI EVM 中 Vbat 前面的5欧姆电阻器的用途。

    2.如果客户将"有效更新电压"设置为大约1.5V、闪存写入保护是否不安全?

    3.计算并更新了哪个周期 AVG_I_LAST_RUN? 是否每次 SoC 达到0时都更新它? 放电周期的平均值?

    非常感谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Ryan、

    我今天咨询了我的团队、并对这些问题做了一些澄清。


    该 10欧姆电阻器的用途是限制流入电容器的浪涌电流。 该电容器是 BAT 引脚上的一项设计要求、器件可可靠运行、而10 Ω 电阻器可防止 BAT 引脚上由最初连接电池时的一些寄生电感引起的任何大的欠阻尼电压过冲。 这也是 BAT_SNS 引脚的原因。 为了确保测量准确且忽略 BAT 上10欧姆电阻器上的压降、电池直接连接到 BAT_SNS 引脚。

    2、LDO 在1.7V 之前可以工作、因此将"有效更新电压"的值设置为1.7V 时应足够低、不会触发校验和有效位、同时也足够高、以便芯片仍然工作。

     
    3、只要放电时间足够长、AVG_I_LAST_RUN 就会更新、以跨越阻抗的网格点更新。 为了澄清这一点、14 Ra 表值都根据预定义的 DOD 网格点进行更新。 当 DOD 达到特定水平时、监测计将确定该水平的电池阻抗并更新 Ra 表。 一旦发生这种情况、监测计将在退出放电模式时更新 AVG_I_LAST_RUN。 因此、更新的触发器退出放电模式(随时进入静置或 CHG 模式)、而选通条件是在放电期间越过了网格点并且更新了 Ra 表值。

    希望这一切都能清除

    此致、

    杰克逊

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    非常感谢、Jackson