所有、
首先：我知道我应该使用 FET_ENABLE 打开充电和放电 FET 以进行生产。 我的问题是关于 CHG_TEST、DSG_TEST 和 PCHG_TEST 位。
根据应用手册 SLUUC78：
17.2.15 ManufacturerAccess() 0x001E 预通道 FET
此命令用于打开/关闭预 CHG FET 驱动功能、以简化制造过程中的测试。 时间
当 ManufacturingStatus ()[FET_EN、PCHG_TEST]= 0、0、
然后 PCHG 打开、ManufacturingStatus ()[PCHG_TEST]设置为1。 如果0x001E 被写入
ManufacturerAccess()再次关闭，然后 PCHG 关闭，ManufacturingStatus()[PCHG_TEST]为
清零。
17.2.16 ManufacturerAccess() 0x001F CHG FET
此命令用于打开/关闭 CHG FET 驱动功能、以简化制造过程中的测试。 当0x001F 为时
当 ManufacturingStatus ()[FET_EN、CHG_TEST]= 0、0、然后是 CHG 时、写入 ManufacturerAccess ()
打开并将 ManufacturingStatus ()[CHG_TEST]设置为1。 如果0x001F 被写入 ManufacturerAccess()
然后再次关闭 CHG 并将 ManufacturingStatus ()[CHG_TEST]清除为0。
17.2.17 ManufacturerAccess() 0x0020 DSG FET
此命令用于打开/关闭 DSG FET 驱动功能、以简化制造过程中的测试。 为0x0020时
当 ManufacturingStatus ()[FET_EN、DSG_TEST]= 0、0、然后是 DSG 时、写入 ManufacturerAccess ()
打开并将 ManufacturingStatus ()[DSG_TEST]设置为1。 如果0x0020被写入 ManufacturerAccess()
然后再次关闭 DSG 并将 ManufacturingStatus ()[DSG_TEST]清零。
当 CHG_TEST、DSG_TEST 或 PCHG_TEST 位设置为1时、这意味着什么？ 它是否将电量监测计置于特殊测试模式？ 如果是、该测试模式的详细信息在哪里解释？ 我几乎找不到关于这些模式的用途的信息。
