主题中讨论的其他器件:UCC28782、 UCC28780
Jaden:
大家还记得、Tan 曾要求我与论坛分享我们如何解决从 UCC28782EVM 到其版本的所有设计/实施问题。
请参见随附的独家优惠!
它为您提供了成功实施 UCC28782设计所需的全部知识!
re2e.ti.com/.../ucc28782fixes_5F00_report.pdf
下一步是测试 USB C PD 应用。
R
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Jaden:
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R
尊敬的 Robin:
感谢分享、很高兴听到您让项目进入下一步。
我想澄清一点,通过耗尽模式 FET 的启动电流由 Vgs (th)/(Rsws + Rdds)决定,因为在 VDD 达到17.5V 之前,Qdds 和 Qddp 将打开, 耗尽模式 FET 的 VGS 由 Rsws + Rdds 短路。一旦 Rsws+Rdds 上的压降高于 Vgs (th)。FET 将关断。因此它始终在 Vgs (th)附近导通。流经 Rsws+Rdds 的最大电流应为 ~ 2.7V/(52+500)=2.6mA。
毫无疑问、较低的 Rdson /大数据包耗尽模式 FET 将带来更高的电流处理能力以及更强的波特二极管反向恢复能力。
谢谢。
Jaden:
我们很高兴感谢您的帮助!
不过、如果您不介意、则需要对耗尽的东西进行更多的敲击。 当 SOT-23足够使用时、谁会想添加一个大脂肪 D2PAK 器件?
因此、有必要真正直接进行数学运算。
在 t=0时、在发生任何情况之前、分析从控制器启动电路的特定状态开始。
当 VDD 充电至1.75V 时、此状态保持稳定。
在此期间会发生什么情况?
P13最有可能处于高阻态。
这将使耗尽型 FET 的 Vgs 保持为0>>>>>A 导通状态。
这在使用 R、C 值的情况下会持续完整5ms。
当 t=0+时,应用100V 的 Lapalcian Step (更多信息)。
对于耗尽型 FET 行为而言、在这短时间内至关重要。
Lapletian 阶跃响应分析通过 耗尽型 FET 产生的电流击穿远远超过了它的能力。
如果它能存活下来、那么休息就没有了。 是的、Isws 为2mA 或更低...等。。VDD 充电至17、5v 等。。 。所有的事件都很清楚。
您是否在 Lapl会 分析中看到了这一点?
再次使用-thnx。
-r
尊敬的 Robin:
感谢您的反馈。 更好的是、我们可以根据波形对其进行分析、即使我们知道很难捕获电流(Rsws 两端的电压) 发生故障时的波形。 我们确实会看到由糟糕的体二极管反向恢复以及 开关节点 VSW 上的急剧 dv/dt 导致的损坏风险很高。 我们在 UCC28780应用手册中对此进行了介绍。将 Rsws 从120欧姆增加到~510欧姆后。故障率 之后显著下降。
谢谢。
Jaden:
在过去两天进行了一些调查:好消息是、当我们移除故障器件(SR & MP6908)并连接了一个快速二极管用于调试时、该模块恢复正常。
但是:有些地方存在电弧、从而导致 SR 故障等
我们将在星期一对此进行更多的研究。
另一个很好的消息是故障仅在次级侧局部化-不会传播到初级侧。
这是肯定的进步、在我们发现电弧在哪里之后、我们就会暗示最终关闭。
将会让您尽快了解。
Thnx、请您注意。
R