尊敬的团队:
1.据我了解、UCC27322-Q1的 IDD 测试条件应为 ENABLE =低电平、对吧? 如果不是、当 IN=LOW 和 ENBL=LOW 时、电流是多少?
2. 我们支持输入/输出的 PWM 频率范围是多少?
谢谢、此致、
雪利
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尊敬的团队:
1.据我了解、UCC27322-Q1的 IDD 测试条件应为 ENABLE =低电平、对吧? 如果不是、当 IN=LOW 和 ENBL=LOW 时、电流是多少?
2. 我们支持输入/输出的 PWM 频率范围是多少?
谢谢、此致、
雪利
您好、Sherry、
感谢您联系 E2E!
数据表上的测试条件似乎缺少 测试条件的额外行。 我已随下面的表附上正确的测试条件。
当 IN =低电平且 EN =低电平时、IDD 典型值为150uA、最大值为225uA
2.我们没有为器件指定最大频率范围、因为它是可变的、具体取决于许多不同的因素。
器件可运行的最大频率取决于器件相对于环境温度的最大功耗。 下面、我将链接一个最大频率计算器、该计算器可用于根据器件数据表和 FET 计算器件可运行的最大频率、以及器件将在其中运行的环境温度。 它可与半桥和低侧驱动器配合使用。
计算器件是否可以处理特定频率的另一种方法是使用功率耗散公式。 我将使用的公式参考 UCC27322-Q1数据表的第12.4节。
根据结至环境热阻、我们可以将器件的热增加值乘以计算得出的功率耗散 P。我已连接下表、对应于 UCC27322-Q1及其 结至环境热阻 RΘJA。 该值将根据所使用的封装而变化。
我们可以获取我们在上面计算的这个温度、并将其添加到器件正在运行的环境室温中、以获取 Tj。
如果计算 出的 Tj 处于 150C 的最大 Tj (器件的最高结温)范围内、则器件可在该给定频率下运行。 请注意、长时间处于绝对最大额定值条件下可能会影响器件的可靠性。
我希望这对您有所帮助!
谢谢、
Kevin