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[参考译文] BQ4050：BQ4050 xchg=1和 XDSG=1 (DIS/充电被禁用)、没有任何明显的原因

admin
Guru**** 2538955 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1106403/bq4050-bq4050-xchg-1-and-xdsg-1-dis-charging-disabled-without-any-obvious-reason

器件型号：BQ4050

您好！

卡在这里。 我已针对我们的应用配置了4050、以设置电池节数、FET 使能端、容量等、并且由于我不清楚的原因、我无法充电或放电。 如果我使用"CHG_FET_TOGG"或"DSG_FET_TOGG"、我可以在高电流下正常充电/放电(一切看起来都很好)。 我已经通读了数据表的保护部分、并从下面的电池管理屏幕截图中看到任何故障都会报告：

我在 DataFlash 中保存了我们更改内容的记录：

我唯一能想到的是设计容量或电压是每节电池、而不是所有4节电池的设计容量或电压？ 相关文档不清楚。

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    TI__Guru**** 2538955 points
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    您好 Evan、

    为什么设置 ManufacturingStatus ()[CAL_EN]标志？ 在校准模式下、监测计不处于正常运行状态。 这可能是一个原因。

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    TI__Guru**** 2538955 points
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    您好、Shirish、

    感谢您的快速响应。 我们不会写入该寄存器、因此假设这是新芯片的默认行为。 我将尝试切换这个。

    此致、

    Evan

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    TI__Guru**** 2538955 points
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    您好、Shirish、

    器件是否会因为该位被置位而进入校准模式(默认值是什么)？

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    TI__Guru**** 2538955 points
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    您好 Evan、

    我建议您将该位保留为默认值。 CAL_EN 命令很可能会发送到监测计并导致该位切换。 您可以使用命令0x41重置监测计、这应将其清除。