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[参考译文] BQ79616-Q1:有关自检功能的问题

Guru**** 2609895 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ79616

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1126499/bq79616-q1-questions-about-the-self-test-feature

器件型号:BQ79616-Q1

大家好、

 我的客户对此设备有疑问。

 为了确保电池模块的安全,BQ 将定期运行“FAULT”测试,以确保 FAULT 信号正常工作。 (无断线、机械损坏等)。 在运行期间、通过差分通信传输的故障信号应触发 BQ79616上的 FAULT 引脚大约10ms。 BQ 似乎只有一个称为内置自检的系统,但它看起来只在启动期间可用,而在运行时不可用。 您能否确认此陈述?

如果它们在运行时通过临时更改故障寄存器阈值来触发 BMS 上的 FAULT 引脚、则 由于不断更改跳闸阈值并覆盖闪存、BQ79616可维持多少个单独的故障跳闸?  这里的假设是、寄存器将具有有限的写入周期。

谢谢!
劳伦

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    您好 Lauren、

    '616支持各种不同的 BIST 功能(内置自检)。 其中包括 OT 和 UT BIST 周期、OV 和 UV BIST 以及电源 BIST。 BIST 的运行取决于客户 MCU 代码序列、因此除非指定、否则不会自主执行任何此操作。 在系统运行和启动期间、它始终可用。 例如、要运行电源 BIST、客户应 写入 DIAG_PWR_CTRL[PWR_BIST_GO]= 1。 有关如何正确配置所有 BIST 的详细信息、请参阅数据表。 可以通过点击产品文件夹上的链接来请求本手册、然后在与 TI 签署 NDA 后、我们可以通过 MySecureSW 提供访问权限、以便在发生故障时更具体地了解运行 BIST 后的任何内置自检 将根据需要更新寄存器。 大多数故障都被锁存、因此需要手动清除、然后才能标记后续相同的故障。

    谢谢、
    Chase

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    谢谢你 Chase。 仅供参考、他们已经拥有数据表。

    因此、芯片可承受的故障跳闸次数没有限制? 理想情况下、它就像一个无限量、但在它将注册另一个故障之前、必须先清除每个故障。

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    您好 Lauren、是的、是的、没错。

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    感谢您的澄清!!