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[参考译文] LM25066:测试时 IC 死机

Guru**** 2582205 points
Other Parts Discussed in Thread: LM25066

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1059939/lm25066-ic-dead-when-testing

器件型号:LM25066

大家好、

客户端 在其 EE 图形卡中使用 LM25066。 当他们在主板上添加保护器电路板进行测试时、170  LM25066电路板中有7个在运行2周期间损坏。 IC 在开启和关闭期间工作、但在2周的测试中的某个时间可能会损坏。 因此它们没有找到问题并捕获波形。

测试条件:VIN = 12V;2个并联外部 MOSFET、每个分支的负载电流= 12.5A、每个分支的峰值电流可达30A

发现所有损坏的电路板:VDD 引脚对地短路

发现几个损坏的电路板:VDD 引脚对地短路+ EN 引脚几乎对地短路

发现几个损坏的电路板:VDD 引脚对地短路+ EN 引脚几乎对地短路+与 EN 引脚连接的 FET 断开

请帮助您提供任何有关确定问题的想法、对此我表示感谢。 如需更多信息、请随时与我联系。

此致、

Jaden Yue

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jaden、

    感谢您与我们联系。  当我们通过电子邮件进行通信时、我将关闭此主题。