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[FAQ] [参考译文] [常见问题解答] BQ769142:MOSFET 短路测试后短路-电压现在始终开启

Guru**** 2324880 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ769142
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1054353/faq-bq769142-mosfet-short-after-short-circuit-test---voltage-now-always-on

器件型号:BQ769142
主题中讨论的其他器件: CSD

您好、TI 论坛、

如您所知、我们非常高兴使用 BQ769142定制 BMS。
我现在正在进行进一步的测试、以申请 IEC 认证。

我在电池组端子上进行了短路(0欧姆)、SCD 延迟设置为7 (90US)、SCD 阈值设置为15 (100A、5m 欧姆传感器)。
我们使用2 x 2 MOSFET CSD17570Q5BT (2个并联用于充电、2个并联用于放电)。  我们的电池组为5s 3900mAh 8C。

施加短路后、两个并联放电 MOSFET 现已缩短、从而在电池端子上提供全功率。 栅极电压为21V (约为电池组电压)、通常会升高到31-32V、以关闭 FET。 但是、尽管栅极电压仅为21V、但 FET 仍处于闭合状态、这可能是因为它们被烧坏/缩短。
您是否有任何想法、我们可以添加/改进哪些内容、以便在发生短路时实现更好的安全性? 我可以想象、烧坏/缩短的 MOSFET 将保持"打开"状态、而不是"关闭"状态。

此外、BQ769142似乎在短路期间烧坏了、您是否知道原因/方法?

目前、这种行为(MOSFET 短路和 BQ 烧坏)会使我们无法通过认证。

此致、

Olivier

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    Olivier、您好!

    电子故障可能有很多原因、但对于电池短路、需要考虑和测试以下一些可能的原因:

    1. FET 不会被命令关闭、并且会损坏
    2. FET 关断速度太慢、并且已损坏
    3. FET 关断速度过快、电感尖峰会损坏 FET 或 BMS 电路
    4. 并联 FET 在关断期间振荡并损坏。

    您可能需要执行多项测试来确定原因。  由于发生了损坏、您可能希望在后续测试中增大电流以检查信号的运行。  下面是一些注释:

    第1项、FET 未命令关闭。 确保电池组电流流经检测电阻并被电池管理电路(BQ769142)检测到、并采取措施。  根据需要在测试设置中检查电流回波、确保负载电流与报告的电流匹配、根据需要增加电流以实现所需的测试。 在短路期间、检查 BMS 器件的电源是否保持恒定。  对于 BQ769142、BAT 线路中的二极管和 BAT 引脚滤波电容器会有所帮助、但该器件将通过 REG18电容器运行来计时事件。  确保 REG18电容器的尺寸正确。   确保 SRP 和 SRN 输入保持在指定范围内、以便部件不会意外复位。

    项目2、FET 关断速度太慢。  检查 DSG 引脚和 FET 栅极之间的电阻器值或栅极的公共驱动器。  这通常应为几千欧。 BQ769x2器件旨在切换大小适中的 FET 或 FET、以实现不频繁的电池保护开关、驱动器的额定电流不像通用 FET 驱动器那样。  来自驱动器的电流将处于最大 mA 范围内。  确保安装了尺寸合适的电阻器。 检查关断时间是否满足 FET 的安全工作区域。  

    第3项、FET 关断过快。  当关闭电流时、您将获得电池的电感响应、并互连 V = L x di/dt。  电感由电芯结构固定、您的电池组组装设计可能具有一些电感选项、但这通常由结构固定。  开关 I 上的电流在短路期间将为高电平、如果您能够以低阈值和短延迟时间检测短路、则您可能能够以较低的电流进行开关。 关断时间 dt 可能是最容易控制的、如果切换速度非常快、则电感响应可能会很大。  高电压可能会使 FET 进入雪崩状态、并且/或者可能产生高电压、输入滤波器必须将其从 IC 中排除。  由于您使用的是5节电池、因此您应该在电池电压和 BQ769142绝对最大值之间留有良好的裕度、以适应瞬态。  由于 CSD17570Q5BT 是30V FET、因此在电压达到 BQ769142的绝对最大值之前、可能会发生雪崩。  如有必要、检查输送到 FET 的雪崩能量。

    项目4、并联 FET 振荡。  一些 FET 在直接并联连接时工作良好、有些 FET 需要一些栅极隔离以避免振荡。  当一个 FET 关断时、它会将负载分段到另一个 FET、然后将其负载转储回其他 FET、从而导致高频振荡、从而导致大电压和损坏。  当 在行业文献中描述这一点时、通常建议使用一个小的单独栅极电阻、也许占总电阻的10%、或者使用一个铁氧体磁珠来隔离栅极以抑制振荡。  这允许栅极接收几乎相同的驱动信号、但具有足够的隔离能力以防止振荡。  在我们并联使用 CSD FET 的多种设计中、我们需要使用磁珠或小电阻器来防止振荡。  检查您的设计/原理图、在开关期间检查栅极信号。  请注意、栅极上的探头可能会改变电路。   在提供隔离时、最好遵循指南将大部分驱动电阻保持为一个公共值、以便 FET 同时开关。  如果使用与驱动器元件容差完全分离的电阻、则可能会允许并联 FET 在不同的时间关闭、从而导致最后一个 FET 关闭以实现完整的短路负载、则该 FET 在这种情况下可能会过载并发生故障。   

    根据我的经验、FET 通常在短路状态下发生故障、但您可以从您喜爱的 FET 供应商或行业参考文献中找到有关 FET 故障模式的信息。  

    没有简单的原因、您需要检查系统切换以确定系统中的原因。  希望以上建议对您有所帮助。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!  

    感谢您的详细回答。  
    我已将栅极电阻器从10k 更改为1k、这将关断时间从大约1ms 减少到0.07ms、初步测试在 SCD 中的阈值高达大约26A、延迟为15us、工作正常(使用10k 电阻器时甚至不是8A)。
    明天我将把限制提高到100A、希望它能正常工作。  

    我还有一个与此有点相关的问题。 我曾遇到过 Rsens 爆炸的情况(因为 SCD 测试中的电流非常大、计时时间超过1ms、因为我的 FET 太慢)。  发生这种情况时(shortcircuit、然后 Rsens 解释)、BQ769142也会终止。 我想、电流正在尝试找到返回 VSS 的路径、唯一的方法是通过 BQ、因为 Rsens 不再存在。  
    您是否知道我如何保护 BQ、以便当 Rsens 在欠载时解释 BQ 不会烧坏?  

    此致、  

    Olivier

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    Olivier、您好!

    您可以在应用手册 https://www.ti.com/lit/pdf/slua749中查看图24。   本应用手册适用于不同的监视器系列、但图24中感应输入端的齐纳连接适用于各种电池电路和您的问题。  BQ769142允许将0.1uF 电容器从 SENSE 引脚连接到 VSS、并且齐纳二极管在不导通时会增加一些最小的电容。  当检测电阻器断开时、齐纳二极管应将引脚电压钳位到安全水平(取决于齐纳二极管选择)、电流受滤波器电阻器 RFILT 限制。  这些组件需要获取故障的功率、请注意、如果检测电阻器保险丝在电池组侧可能存在指示性尖峰、因此峰值电流可能高于电池电压/RFILT。   最好选择具有脉冲额定值的较高功率感应电阻器、并在高电流路径中包含一个保险丝、该保险丝将在感应电阻器之前打开。

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    感谢 TI_Guru、

    最后一个问题、您能看一下这张图片吗?  

    phots.app.goo.gL/YNZRcF7afkdVwbaX9

    它是对100A 短路的反应。 黄色表示 PACK+电压、蓝色表示 MCU 3V3 LDO 电压、紫色表示栅极电阻器之后的 DSG FET 栅极测量。

    CP1 = 1uF

    Rgate = 1k

    单路 MOSFET (1 CFET、1DFET)。

    一旦检测到短路、栅极似乎就不能变为低电平。 因此,我有一个很长的延迟,大约400 us。
    使用较低的 SCD 阈值(高达~20A)时、我的响应要好得多:

    https://photos.app.goo.gl/ycczFk8rF8SDvgj48

    有什么想法吗? 这是否仅仅是由于高负载感应响应?

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    Olivier、您好!

    20A 响应看起来如预期的那样。  SCD 响应看起来应该类似、但在 SCD 延迟超时且直到关闭时、BAT+电压下降到某个低电压。   在100A 的图片中、不稳定的信号部分看起来可能是间歇性接触、然后是一个稳定连接、将电池电压拉至大约5V。  DSG 引脚和 FET 栅极应更高、直到决定关闭 DSG。  我希望 PACK+的5V 电平上出现短暂延迟(SCD 延迟)、然后像其他图片一样出现下降。  3.3V 看起来可能会随负载下降0.4至0.5V。  您可以检查是否存在来自高电流的接地漂移 、从而使 SRP 和 SRN 超出其工作范围、并且无法识别差分电压。  该器件的工作原理是在检测电阻器的 SRP 侧以 VSS 为基准、而在工作期间 SRP 上的电压相对较小、如建议的工作条件表所示。