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[参考译文] UCC21750:双脉冲测试期间出错

Guru**** 2767745 points

Other Parts Discussed in Thread: UCC21750

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1017846/ucc21750-error-during-double-pulse-test

器件型号:UCC21750

我叫 Toshiba Corporation 的 Teruyuki Ohashi。

我 尝试 使用    UCC21750对 SiC MOSFET 模块进行双脉冲测试。

当漏极电压为400V 或更低时、 可以获得清晰的波形。

但是、当漏极电压超过400V 时、 不会施加第二个脉冲。

是否有任何保护功能起作用?

此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Teruyuki:

    在第一个脉冲之后、可能导致栅极驱动器关断的保护特性之一似乎是通过 DESAT 引脚进行短路检测。 没有更多信息就无法确定:

    • 当漏极电压超过400V 时、第二个脉冲是否永远不会出现、或者是否比预期提前关断?
      • 第一个脉冲是否早于预期关断、或者是否遵循 IN+输入信号?
    • 您是否能够共享原理图的栅极驱动器部分以查看栅极驱动器的配置方式?(请指定在运行双脉冲测试时是否未组装某些元件)
    • 您是否有可以分享的双脉冲测试的示波器截图?
    • 为了确认 DESAT 引脚是否导致栅极驱动器关断、我们可以运行一个快速测试、即禁用 DESAT 功能。 这可以通过将 DESAT 引脚短接至栅极驱动器 IC 的 COM 网络来实现

    如果有任何问题、请告诉我。

    此致、

    Andy Robles