我们现在有数百个此设计正在运行、 并且48V/12V 电源的输出不时消失。 发生间隔的时间很长、似乎是随机的、例如 、在整个人群中、总发生时间为一周2或3次。
重新施加48V 输入可恢复正常运行。
我们 的配置是 PFM 模式。 我们有很长的软启动时间(大 CSS)、但之前我们注意 到开发单元上的这种相同情况、它仅使用26u 作为 CSS (请参阅我们在上一个线程中提出它)。 该特定装置平均每隔几天就会出现故障。 我们将此问题(遗憾的是)作为一次性损坏的组件予以解决。 作为一个预防步骤、我们还降低了 FB 电阻分压器值、以减少这个高阻抗电路上的任何噪声。
我们很幸运、我们的一个实验室单元在测试台系统中出现了此故障。 检查单元发现芯片没有明显的外部条件：
- VIN：正常、无噪声/尖峰 [在正常运行期间也是如此]
- 使能(EN)：6.64V [在正常运行期间也是如此]
- VHYS：174mV [在正常运行期间也是如此]
- FB：0V
我们注意到：
- VSS：185mV、稳定(无噪声+恒定)
- SW 引脚无活动。 实际上、SW 为 HiZ、表示上拉或下拉 FET 从未打开
- 将 EN 拉至低电平并释放重新启动的"锁闭"单元正常工作。
值得注意的是、这里的其他设计人员已经遇到并报告了 LM5166的类似问题。
LM5166组件似乎已在内部锁存。 有人可以提供帮助吗？：
- 什么是触发事件、如果这是外部激励、如何 消除它？
- 是否有权变措施确保器件退出此状态并重新启动？
谢谢、Craig
2021年4月12日更新：(我正在修改原始帖子、因为我出于某种原因无法在回复中插入图像)
我们已经进一步研究了这一点、并发现如果噪声注入 EN 引脚或 FB 引脚、LM5166芯片将快速关断、并且在下电上电之前不会尝试重新启动。 LM5166的内部逻辑似乎可能会锁存。
作为起点、大约3V pk-pk 的白噪声叠加在 EN 引脚上的7V DC 上。 EN 电压始终远高于使能阈值。 几 秒钟后、可以看到开关12V 输出发生了 colapse、消除了白噪声 、但未看到 LM5166重新启动- 需要全功率循环。
从其他测量中可以看到 、EN 输入似乎需要一个有效期为1.3us 或更长的状态才能 被逻辑识别为启用或禁用条件。 考虑到这一点、我们尝试对 EN 输入施加阶跃变化、而不是噪声。 在3V pk-pk 时、大约0.3至0.8us 的脉冲宽度也会导致 LM5166在这种情况下关断并保持锁存。 1V pk-pk 无效、可以无限期容忍。
通过向我们设计的48V 电源输入施加瞬态(即48V 降至 4~8V 尖峰、持续时间为0.3至0.8us、频率约为数十 kHz)、也可以复制上述影响。 采用重复率较低的刺激措施对于迅速重现问题没有效果。
在 EN 和 GND 之间放置一个100pF 电容器可提供显著的改进、但 LM5166仍会不时锁存。 或者、在 FB 引脚接地100pF 时、我们迄今无法通过施加到48V 输入的激励来实现闩锁。
我们想知道：
- LM5166在特定工作条件下可承受内部生成的开关噪声，这也取决于设计实现方式，因此在所有设计中都看不到。
- 在 FB 引脚上增加100pF 可提供低阻抗路径并降低内部硅噪声、否则会不时导致随机器件发生锁定
有什么想法吗？ 谢谢。
2021年4月20日更新：
