[参考译文] TPS54331：器件在 EN 电平达到指定阈值之前关闭

您好、 Vlad  

您的测试方法可能不准确、因为 IC 具有响应时间和抗尖峰脉冲时间。  

建议使用以下测试方法：  

1.设置 Vin=HIGH (可能是12V)、在 EN 引脚上施加电源、以10mV 的阶跃从1.5V 缓慢扫描到0.5V、直到 IC 停止开关、将此电压记录在禁用电压上。  

您还可以在0.5V 至1.5V 之间缓慢扫描以检查使能电压。  

2.同样、将 EN 引脚电压设置为2V、您可以缓慢扫描 Vin 电压以检查 VIN UVLO 阈值。  

赵好、

感谢您的快速反馈！

当然、我们可以尝试以不同的方式进行测量、但我怀疑这确实是解决方案、因为 IC 会在电压达到限值之前切换。 如果 IC 不会对超过限值的电压做出反应、我可以理解缓慢运动中的测量、但在我们的情况下、IC 的关闭速度比它根据规格应该更快(更早)。 对于这种情况、抗尖峰脉冲实际上应该有所帮助、因为如果我理解正确、它会使 IC 忽略短信号下降。

第二件事让我非常困惑、为什么我们在生产日期代码之后有两种不同的行为变体。 我们目前分析了大约10个单元、并看到始终相同的操作/数据代码组合。

任何想法都将不胜感激、因为我们目前必须考虑 IC 方面的问题。

谢谢、
Vlad

您好、Vlad、

通常情况下、快速 VIN 压降不会触发器件关断。 导致这种现象的一个原因是 VIN 快速下降耦合到 VIN UVLO 电路中、因此即使您看到 VIN_MIN 仍为8V、但在内部节点上它已经触发了 UVLO。 不同数据通信代码之间的差异是因为它们是在不同的时间构建的、因此 UVLO 是不同的、但无论如何都应该在我们的规格范围内。 还有两个问题：

1. VIN 波形是接近还是远离 VIN 引脚？ 蓝色曲线是什么？

2.您能否将 VIN 压降压摆率调整得稍微慢一点？ 也许您可以添加一些大输入电容器来进行验证？

尊敬的 Vincent：

很抱歉耽误我的时间、感谢您的支持！

老实说、我不完全理解有关耦合到 VIN UVLO 电路的说明。 您是说这在 IC 内部发生了吗？

至于您的问题：

1) 1) VIN 在非常靠近 VIN 引脚的位置测得。 蓝色曲线表示负载开关打开、这会导致 VIN 上出现短路电源瞬态。

2)是的、这已经完成、通过使 MCVBB 的切换速度变慢。 这不仅会改变下降/上升时间、还会改变瞬态最低点的绝对值。

遗憾的是、此修复仅可作为设计更改、不能应用于现有产品。 问题在于、设计在生产之前已经过验证和验证、现在我们看到了对数据码的依赖、因此必须隔离一些生产的产品、直到我们在此得到明确。

谢谢、

Vlad。

您好、Vlad  

我再次检查 EN 阈值。  

1.35V 是最大值、这意味着当 VEN 高于1.35V 时、所有 IC 都可以工作。  

数据表未提供最小值、实际上、对于某些 IC、其阈值低至1V (min)、这意味着当 Ven >= 1V 时、某些 IC 将工作。  

2. 对于 Vin、其 UVLO 阈值最大值为3.5V、这意味着当 Vin>3.5V 且 VEN >阈值时、IC 将工作。  

问题：  

为什么在 "输入低于5+2.1V = 7.1V"时、您会说 IC 关闭？  

因此、根据我们的测量结果、EN 不能作为输出关闭的原因、对吧？

我认为、如果 BOOT 到 PH 的电压低于8.3.3的2.1V、IC 将关闭输出、因此压降将为2.1V、因此 VIN 将被限制为5V+2.1V=7.1V、我是否对数据表进行了正确解释？

您好、Vlad  

1.是的。  

2. VIN 不受5V+2.1V=7.1V 的限制。  

实际上、当输入电压大于3.5V 且 EN >其阈值且 V (BOOT-PH)> 2.1V 时、IC 将开始工作。  

好的、谢谢！ 但是、为什么 IC 在瞬态期间关闭、因为这些值都高于阈值？

您好、Vlad  

1.我怀疑这些 IC 可能已损坏。  

您是否进行了 ABA 交换测试？ 该问题是否出在 IC 上？ 这意味着将这个发布的 IC 安装到良好的电路板上并再次进行测试、我们可以确认问题是否出在 IC 上？   

2.下面的测试可以确认 EN 阈值和 VIN UVLO 是否超出规格。  

如果它们超出规格、我认为 IC 异常、可能会损坏。  

"建议使用以下测试方法：  

1.设置 Vin=HIGH (可能是12V)、在 EN 引脚上施加电源、以10mV 的阶跃从1.5V 缓慢扫描到0.5V、直到 IC 停止开关、将该电压记录为禁用电压。  

您还可以在0.5V 至1.5V 之间缓慢扫描以检查使能电压。  

2.同样、将 EN 引脚电压设置为2V、您可以缓慢扫描 Vin 电压以检查 VIN UVLO 阈值。 "  

1.是的、我们进行了 A-B-A 测试、问题出在 IC 和数据代码。

2.我将尝试测试方法，并在今天稍后报告数据。 谢谢！

赵好、

2.我检查了慢电压扫描、可以确认阈值电平似乎正常。 随着电压的下降、SMPS 在5.3V 的 VIN 电平和0.92的 EN 电平上关闭。 同时、如果我移除 VIN 并重新连接、SMPS 将仅在 VIN 高于7.4V 且 EN 高于1.3V 时启动。

但现在的大问题是、动态瞬变情况下的行为为何与准静态测试不同？ 我们是否需要了解任何特殊情况？

谢谢、

Vlad

一些问题：  

1.我怀疑 EN 可能会受到噪声的干扰，您能否发送布局文件进行审查？ (顶层和底层、屏幕截图正常。)  

2."同时、如果我移除 VIN 并重新连接、SMPS 将仅在 VIN 高于7.4V 且 EN 高于1.3V 时启动。"  

[HAZO]移除 Vin 并重新连接时、EN 是否保持高电平？  

 我想知道为什么 EN 阈值更改为1.3V、我认为它应该保持在0.92V。 VIN UVLO 阈值也不应更改为7.4V。 我想知道您的测试步骤。   您是否在测试 EN 或 Vin 阈值时添加了负载？  

3.您能否同时捕获一些波形？ 发生问题时、请探测 VIN/EN、5Vout 和 PH 波形。  

赵好、

1) 1)请参阅以下内容：

底部

返回页首

2) 2) EN 始终通过470k 上拉电阻和100k 下拉电阻连接到 VIN。

对于我们的 PCBA、负载是典型值、最大值约为50mA-100mA

3)

您好！

赵某将于周一向您提供反馈。

谢谢、

Lishuang

您好、Vlad  

当输入电压大约为8.4V 时、它看起来 IC 停止开关。  

您是否曾在 Vin 下降时探测 EN 信号？  

我想在 IC 停止开关时确认 EN 电压。  

赵好、

请看一下原始消息、我在那里发布了 Vin 和 EN。

谢谢、
Vlad

EN 降至1.76V、Vin 降至8.4V。

您好、Vlad  

出现问题时、您是否在一张图片中包含 EN、5V 输出和 PH 波形的波形？   

您好、Vlad  

实际上、我始终怀疑 EN 信号受到噪声的干扰。  

您能否在 EN 引脚和 GND 之间添加一个100nF 电容器？ 然后重新执行测试。  

赵好、

关闭5V 稳压器的标准波形

CH2 - EN、

通道3 -输入电压

通道4 - PH

在下面、您可以找到相同的、但在 EN 上具有额外的100N：

请注意、EN 到 Vin 上有一个470k/100k 分频器、因此 RC 常数非常高。 尽管如此、5V 稳压器仍处于关闭状态、老实说、我看不到 EN 输入状态造成的任何差异。 我测试得越多、我就越认为转换器对下降时间感到困惑。 如果 Vin 上的下降时间高于大约5V/us、您能否检查并确认、如果 IC 能够在 Vin 达到阈值之前关闭 PH？

谢谢、

Vlad

同意您的观点、它看起来是由快速 Vin 下降时间引起的。  

我将在 TI 实验室中再次检查 EVM。  

BTW、如果您降低 Vin 下降速度(扩大下降时间)、它是否仍然存在此问题？   

更改下降时间后、我们发现在7.2V/us (标准值)下、5V 会被中断、并将从4.7V/us 开始正常工作。

5V 分压：

5V 请勿损坏：

您好！

赵正出差。 他明天将对你作出回应。

谢谢、

Lishuang

您好、Vlad  

我认为您的测试结果已经验证了 Vincent 的分析、请参阅下面的回复。  

我同意他的观点、即 Vin 下降速度太快、会触发 IC 误触发 UVLO 保护。  

建议放大 输入电容器以解决此问题。  

我想知道为什么有这么快的输入电压下降呢？ 大负载阶跃？   

赵好、

感谢您提供的信息、但我无法说我完全理解了问题。 这似乎是 IC 的内部问题、对吧？

压降来自电容负载换向的短期负载(为大电容充电)。 我们还测试了额外的大容量电容器、但发现它无法提供帮助、因为下降时间保持不变、因此大容量输入电容器只会更改电压下降到的值、而不是下降时间。

此外、我们之前已经生产了几批相同产品、但在这里没有任何问题、因此我对零件间的差异有点担心、尤其是因为数据集中未指定此参数。 您能否咨询设计团队、告诉我们可以在没有问题的情况下将哪个最长下降时间馈送到输入端？ 我们需要这些数据来定义利润并支持整个批次的潜在返工。

谢谢、Vlad。

您好、Vlad  

换句话说、根本原因是"输入电压快速下降压摆率"(7.2V/us)会耦合噪声并 干扰 UVLO 逻辑并导致 IC 复位。  

因此、我认为我们必须降低  Vin 下降压摆率以解决此问题。  

2.是的、我同意 零件间差异。 不同器件的 Vin 下降压摆率阈值不同。  

"良好的 IC"可能会在较大 的 Vin 下降压摆率下触发此问题。  

3.对于"可以无问题地将最大下降时间馈送到输入"。

我认为这个问题与 寄生电容器有关、设计人员很难估算 寄生电容器并定位 问题电路的点、因此很难给出阈值。  

根据我的经验、 Vin 下降压摆率< 1V/us 是安全的。  

可能的解决方法：  

您能否在以下位置添加电感器(1uH)或磁珠？ 然后重新执行测试。  

您好、Vlad  

让我们通过电子邮件讨论这个问题。  

我的电子邮件：zhao-ma@ti.com