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[参考译文] TPS552882-Q1:执行瞬态测试时器件损坏。

Guru**** 1959305 points
Other Parts Discussed in Thread: TPS552882-Q1
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/986003/tps552882-q1-device-damaged-when-doing-transient-test

器件型号:TPS552882-Q1

您好!

  我的客户正在评估 TPS552882-Q1、该产品适用于与汽车相关的外设、  9-15V 输入、12V 1.25A 输出。 原理图和 PCB 如下所示。  到目前为止、  

功能正常、甚至通过老化测试。 但是、当它们进行瞬态测试时、发现了几个损坏的情况(芯片、外部 MOS 和电感 都断开)。   瞬态测试从0A 切换到1.25A、 频率为30Hz、占空比为50%。  在瞬态测试期间、它们还将输入电压从9V 更改为15V。   请帮助检查他们的设计、并帮助突出显示此设计中是否存在一些缺点。 谢谢。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Yue:

    客户的原理图和布局都有问题。 我们可以通过电子邮件对此进行进一步讨论。

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