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[参考译文] BQ40Z80:BQ40Z80 -测试夹具中的异常行为

Guru**** 2568565 points
Other Parts Discussed in Thread: INA186, BQ40Z80

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1009248/bq40z80-bq40z80---very-strange-behavior-in-test-jig

器件型号:BQ40Z80
主题中讨论的其他器件:INA186

大家好、


我们有一个采用这种芯片的设计、刚刚开始大规模生产、发现大约所有副本的8%存在非常奇怪的行为。 在下面、您可以从我们的测试软件(针床测试仪)中看到诊断数据、希望这能告诉您一些信息。 我测量的电压如下:
BAT=17V、CHG=28V、VCC=17V、DSG=17V、PACK=17V、 PBI=17V、VC1...VC6测量适当的分数电压。 SRP = SRN = 0.14V。

测试仪同时向 Vbat 和 Vpack 两侧施加17V 电压(仅供源)。

奇怪的是、该器件报告 Vbatt = 26.11和 Vpack = 30.11 (这两个结果都来自函数调用0x0071)。 温度测量正确、它还将所有电池电压报告为零(它们不是零)。 此外、它还报告 OCD1故障、测量电流为零。

这是绝对可重复的、交换好的和坏的单元会产生可重复的结果。 我希望你们中的任何人都能告诉我接下来要检查的内容。

此致 Frank

好芯片:

坏芯片:

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    弗兰克、

    您很可能会通过创建短接来损坏零件。 两侧不能只有源设备。 如果您同时将电池和电池组设置为17V、则其中一个最终的电势将高于另一个、但另一个无法"获取"任何电流。  

    您是否可以在其中一侧使用4象限电源? 这意味着可以同步和拉电流的器件。

    谢谢、

    Eric Vos

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    尊敬的 Eric:

    感谢您的回答。 我看不到过大电流会穿过的路径、您能给我一个提示吗? 为什么我不能这么做、这与具有大容量电容的负载有何不同?

    我要连接完整的测试仪电路。 在这种情况下、V+来自设置为17V/100mA 的工作台电源。 测试控制 MCU 正在将 VBAT_pu 和 VLOAD_pu 置为有效(参考原理图第2页)。

    同时、我已经检查了电路板是否存在焊接问题或问题。 移除/重新处理可疑芯片不会改善情况。 组装另一个芯片会使装置正常工作。

    此致 Frank

    e2e.ti.com/.../kTwinBMSTester_2D00_pcb.sch.pdf

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    弗兰克、

    不幸的是、我不确定电流来自何处。 一些启动时的电源在稳定前具有非常高的尖峰。 您可能会介绍类似这样的内容。 我知道在两侧连接电源是一个问题、因为一个电源会将电流推入另一个电源(它无法接受)。 仅连接电池侧时问题是否消失?  

    谢谢、

    Eric Vos

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    尊敬的 Eric:

    同时我也有

    -从电路板上卸下可疑芯片并装入新芯片->然后该模块工作并通过生产测试。

    -将可疑芯片焊接在全新的 TI 评估板上->芯片也*不*适用于该芯片。 监控数据表明、ADC 正在读取电流和电压的完全无用数据(通常为+/-32767)、但所有其他功能(如 MOSFET 驱动)似乎都起作用。 我不理解的是温度读数正确、我认为故障必须在通道多路复用器中、而不是 ADC 本身中。 我应该注意哪些信号(从多路复用器内部供电的位置)?

    关于您的想法,它是*一*个工作台电源,而不是两个。 查看我随附的 PDF、第2页显示了电路。 电源连接到 V+。 我已经检查过冲并在这里测量大约2V、但它不是用于大规模生产测试的电源单元。 现在、我将检查它的行为方式。

    测试仪通常仅向 VPACK 施加电压、然后在进行进一步测试之前配置芯片。 在这种情况下芯片已经失效了。 因此、您对过压的要求可能是一个好提示。

    更新了:我已经在上电期间测量了 SRP 处的电压(这是由外部 INA186感应放大器生成的)、我看到512毫伏的短尖峰持续50微秒。 在这种情况下、BMS 芯片尚未通电。 这会造成损坏吗? 请参阅以下屏幕截图:黄色= SRP、紫色= PBI。 此外、测试仪会通过10k 电阻器将3.3V 电压永久施加到 SMBD/SMBC、这会导致问题吗? 电流大约为50微安。

    EDIT2:我通过从工作台电源向该引脚突然馈送高达2.5V 的电压来测试 SRP 引脚的易感性、同时系统的其余部分保持未通电状态。 这样做时、我不会测量虚构的电流、而且芯片保持完好。 因此、我不认为进入 SRP 的0.5V 短尖峰会导致故障。

    EDIT3:来自大规模生产装置的线性工作台电源刚刚提供。 它运行良好、过冲很少(下图)。 此时、我不知道还有什么要做的。 目前、我们已停止生产、也未将通过 OK 测试的器件运送给客户(因为这些器件可能会受到伤害)、迫使客户也停止输送带。 我在这里迫切需要一个解决方案、希望能从你们那里获得新的想法。 我最重要的问题是:如果我们假设 BQ40Z80的某个引脚存在过压或过流、哪一个引脚可能会导致该奇怪的电压和电流测量故障?

    此致 Frank

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    弗兰克、

    我对我长期缺席感到抱歉。 我已经与设计人员联系以寻求帮助、因为我不能想到会损坏器件的连接现象之外的任何东西。 下面是一些我希望您运行的测试。

    1)您是否能够将黄金映像 srec 重新编程回器件并使其恢复(移除作为故障器的闪存损坏)

    2) 2)您是否愿意以我的方式发送故障器件、以便我可以将其发送给 FA、查看是否可以发现故障器件。 我仍然怀疑 ESD 或一些尖峰事件。

    谢谢、

    Eric Vos

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    尊敬的 Eric:

    感谢您深入探讨这一问题。 我刚刚尝试通过 Battery Management Studio 刷写默认值、在 bq40z80EVM-02上使用了坏芯片。 它不接受新数据、I2C 链路也会受到干扰。 但这可能是因为芯片尝试因其错误状态而关闭。

    我很高兴向您发送一些坏芯片、其中包括 EVM 上的这一个芯片。 请告诉我发货到哪里。

    同时、我们还拥有经过应力测试的生产测试仪:

    -一个 BMS 样品锯切超过5000个周期

    -另20个锯、每个锯180个周期

    -另有80个锯片、每个锯10个周期

    未观察到任何故障! 这加深了您对问题可能与 ESD 有关的怀疑、尽管这是一个令人担忧的想法、因为我们的电子制造服务已建立良好、并且我们在多次访问期间检查了他们的流程。

    此致 Frank

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    弗兰克、

    我将开始私人对话以发送发货详细信息。  

    谢谢、

    Eric Vos

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    Eric、您好、我还没有看到私人对话、我是否需要找一个特别的地方?

    此致 Frank