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[参考译文] CSD18510Q5B:如何更准确地预测 FET /二极管中的反向恢复损耗

Guru**** 668880 points
Other Parts Discussed in Thread: CSD18510Q5B
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/997687/csd18510q5b-how-to-more-accurately-predict-the-reverse-recovery-losses-in-fets-diodes

器件型号:CSD18510Q5B

您好!

我将尽可能仅使用数据表信息来预测直流/直流转换器中的损耗。 我不太幸运的参数之一是 Qr/TRR 相关损耗。

在大多数数据表中,Qrr 损耗仅针对一种工作条件指定,但从您的一些培训材料(https://training.ti.com/understanding-mosfet-datasheets-switching-parametershttps://training.ti.com/reverse-recovery )和其他研究论文中可以看到,这些损耗会随 di/dt 的变化、反向恢复前的正向电流和温度的变化而变化很大。

我的问题是:是否有任何公式可应用于数据表 Qr/TRR 参数以更正不同的工作条件? 例如、如果我的应用 di/dt 接近于1000A/us、而不是 CSD18510Q5B 数据表中指定的300A/us (我选择了随机 FET)、我是否可以应用比例因子? 如何针对不同的 di/dt 和 I_F 进行缩放将是我主要寻找的结果。

此致、

Oisin Anderson

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    您好 Oisin、

    感谢您关注 TI FET、我不知道基于 di/dt 和 if 的 Qrr 比例因子。 我对同事有一些疑问、以了解他们是否对您的请求有任何意见。 我将在收到其他信息后立即向您更新。

    谢谢、

    John Wallace

    TI FET 应用

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    您好 Oisin、

    我与同事进行了检查、没有能够使用不同 di/dt 以及准确计算 Qrr 的分析方程、因为它在技术与技术之间存在很大差异。 作为第一个近似值、您可能会假设 Qrr 与 di/dt 和 IF 成正比。 然而,我们没有数据,无法提出相称性因素。

    此致、

    John

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    尊敬的 John:

    感谢您的帮助、希望我最终能找到一些东西。

    此致、

    Oisin

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    您好、Oisin、

    我通过谷歌搜索"mosfet reverse recovery"、找到了一些有趣的文章和应用手册。 您还可以搜索"硬换向"。 希望这对您有所帮助。

    谢谢、

    John