您好!
我将尽可能仅使用数据表信息来预测直流/直流转换器中的损耗。 我不太幸运的参数之一是 Qr/TRR 相关损耗。
在大多数数据表中,Qrr 损耗仅针对一种工作条件指定,但从您的一些培训材料(https://training.ti.com/understanding-mosfet-datasheets-switching-parametershttps://training.ti.com/reverse-recovery )和其他研究论文中可以看到,这些损耗会随 di/dt 的变化、反向恢复前的正向电流和温度的变化而变化很大。
我的问题是:是否有任何公式可应用于数据表 Qr/TRR 参数以更正不同的工作条件? 例如、如果我的应用 di/dt 接近于1000A/us、而不是 CSD18510Q5B 数据表中指定的300A/us (我选择了随机 FET)、我是否可以应用比例因子? 如何针对不同的 di/dt 和 I_F 进行缩放将是我主要寻找的结果。
此致、
Oisin Anderson