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[参考译文] BQ2970:泄漏电流

Guru**** 2385350 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ2970
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/991194/bq2970-leakage-current

器件型号:BQ2970
主题中讨论的其他器件:CSD

大家好、

 已将 BQ29707包含在我的设计中、并且总的来说、它按预期工作。 当电池电压低于2.8V 时、DOUT 变为低电平以中断电路(关闭 DSG FET)并防止电池进一步放电。 我已使用2个 CSD16301Q2 N 沟道 FET 来提供充电和放电保护。 我的问题是、尽管电路中断、DSG FET 仍存在大量泄漏电流、因此电池在几天内变得平缓。

DOUT 可能无法完全关闭 MOSFET?

这是 BQ29707的原理图、U11和 U12是充电和放电 FET。 当我断开 U12和 U11时、泄漏电流会消除

与数据表的偏差

我在设计中没有包括数据表中建议的5MΩ Ω 电阻器、但我认为这与我的问题无关...

此外、数据表还建议使用 RDS on = 7.5mΩ Ω 的 FET、 而 CSD16301Q2 的 RDS on = 27mΩ Ω我认为这也 与我的问题无关...

是否有任何建议或调试指导?

Nick

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Nick、

    对于27m Ω FET 并添加了 R19、我希望您具有低电流负载、并且可能具有对泄漏电流敏感的低容量电池、并且可能不希望5.1k RGS 电阻器增加负载。  

    诸如 CSD 器件的表面贴装 FET 将对泄漏污染敏感。  我不知道该特定器件、您可以查看其数据表或论坛问题上的任何特定建议。  测量系统上的电压状态和泄漏可能会有所帮助。

    请参阅 BQ2970数据表 第9.4.3节过放电状态(UV 条件)并检查负载条件。  该器件应处于低功耗状态、V-上拉至 VBAT。

    检查 您是否未进入 第9.4.4节"放电过流状态(放电过流、负载短路)条件"而不是 UV。  在此状态下、器件将把 V-下拉至 GND、这将继续为电池负载。  在使用大 FET 电阻和 R19的测试期间、这可能是一个容易进入的状态。

    如果可能、 您可以将5.1M RGS 添加到 DSG 栅极作为测试。  否则、查找电流。

    希望这对您有所帮助。