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[参考译文] UCC27211:当输入电压变化时,是否会影响驱动器(UCC27211)?

Guru**** 2769565 points

Other Parts Discussed in Thread: UCC27211, UCC27282

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/962499/ucc27211-when-the-input-voltage-changes-will-be-the-driver-ucc27211-affected

器件型号:UCC27211
主题中讨论的其他器件: UCC27282

在实验过程中、发现 IC 的异常波形。

测试条件为11V 至14V 输入、而驱动器 IC 的 Vcc 由输入提供。

测量电路波形,分别测量 C1:输入电压,C2:DSP 输出,C3: 隔离式 IC,C4:MOS Vgs (驱动器后)  

   

波形如下:

(C1:Vin、C2:DSP PWM、C3:隔离器 IC 到 Diver、C4:Diver 到 MOS)

结果如下:

1.当 Vgs 异常高时、DSP PWM 几乎为0V、通过 隔离 IC 的信号略有上升、因此不应成为 DSP 程序的问题。

2.从上一个 PWM 周期可以看出、时序是 DSP 到隔离式 IC 再到 Vgs。 通过 IC 具有一点延迟时间是合理的。

不过、异常波形的 Vgs 比隔离式 IC 信号发生的时间略早、因此我们认为该问题可能是由驱动器 IC 的异常引起的。

问题:

当输入电压变化(11V 至14V)时、驱动器(UCC27211)是否会受到影响? 或其他可能的波形异常原因。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Jim、您好!

    感谢您的联系。

    只要驱动器的引脚处于建议的工作条件内、驱动器就不会出现行为错误和/或受到 VDD (11至14V)变化的影响。 您能否确认 C1是直接在驱动器的 VDD 引脚上进行测量? 如果是、您可能需要使用足够的电容值来稳定电源:2个并联电容(=0.1uF 且>=1uF)。

    我假设问题仅与高侧通道相关、而不与低侧相关、请确认吗?

    我已经查看了原理图、您能否确认您的引导电容器值、以确保它们的大小适合驱动4个并联 FET。 在驱动并联 FET 时、我们通常建议为每个栅极分配一个电阻器、以抑制由于非对称/不均匀 PCB 布线而导致的栅极潜在振铃。

    对于波形、C1信号似乎会触发 VDD 电源上的振铃。 如果问题与高侧通道有关、除了 VDD 电源外、HB-HS 也会受到影响。 您能否在与 HM-HS、HI 和 VDD 相同的图上确认 HB-HS 上的信号?

    此致、

    -Mamadou  

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    感谢您的回复。

    1.是的、VDD 位于同一电路环路上。 VDD 使用的电容器为4.7uF。

    2、我们测量了异常波形、高侧通道和低侧都存在这一问题。

    我们 使用值为4.7uF 的引导电容器。  我们已经测试了为每个栅极分配一个电阻器、这种情况将再次发生。

    驱动器 IC VDD 和输入电路最初具有相同的环路。 我们断开了 VDD 与输入的连接、并提供了一个额外的12V 电源、以获得以下波形:

    (C1:Vin、C2:隔离器 IC 到接收器、C3:LO-GND、C4:HO-HS)

    答:仍然存在两个重叠信号的问题、但显著减少了周期的发生。

    B.此外、我们发现当驱动器 IC 提供额外电压(12V)时、 HM-HS 会随异常情况增加电压。

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    你好、

    感谢您提供更多信息和实验。 我在您的响应中看到 VDD 电容器为4.7uF、您提到引导电容器为4.7uF。 您能否确认这些是 VDD 和引导电容的值?

    引导电容值非常大、这是一个问题。 我在其中一个示波器图中看到的波形显示的开关频率为~83kHz、您能否确认这是否正确。 我建议根据 UCC27282数据表第8.2节中的设计指南检查引导电容值。 MOSFET Qg、VDD 和开关频率决定了所需的引导电容器值。  此数据表提供了有关选择组件值的详细指导。 可在下面找到数据表链接。

    https://www.ti.com/lit/ds/symlink/ucc27282.pdf?ts=1607525622618&ref_url=https%253A%252F%252Fwww.ti.com%252Fproduct%252FUCC27282

    此外、建议 VDD 电容器比引导电容器大10倍、以最大程度地减小自举电容器充电后的 VDD 压降。

    因此、我建议确认/调整启动电容器和 VDD 电容器的大小、以确保启动电容器不会过大、并且 VDD 电容器的值是该值的10倍。

    最近的波形行为通常是由以下两个原因之一引起的。

    1) 1)栅极驱动器输入上可能存在电压干扰、从而导致输出误触发。 我建议在驱动器输入引脚上尝试使用小型 R/C 滤波器、并将电容器放置在非常靠近驱动器 IC 引脚的位置。 尝试使用33欧姆和100pF 的初始值、这不会对延迟产生太大的影响。 您可以尝试增大这些值以查看这是否有助于解决问题。

    2) 2)在 VDS 上升沿期间、MOSFET 米勒电荷可能会产生 Vgs 扰动、该扰动足以暂时使 FET 导通错误。 确认并解决此问题的一种方法是通过增大 MOSFET 的导通栅极电阻来降低开关 dV/dt。 VDS 上较低的 dV/dt 将减少米勒电荷对 FET Vgs 的电压干扰。

    确认这是否能解决您的问题、或者您可以在此主题上发布其他问题。

    此致、

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    感谢您的回复。

    是的、我们使用的引导电容为4.7uF、开关的开关频率为80kHz、我们尝试增加导通栅极电阻、结果相同。

    根据您的建议、我们进行了以下调整。 将自举电容更改为0.47uF、并在驱动器输入引脚上使用33欧姆和1nF R/C 滤波器、仍然会出现与以下波形相同的情况:

    C1:Vin、C2:LO-GND、C3:HS-HO、C4:HB-HS (BOOT 电容)  

    根据波形图的结果、我们发现引导电容器上的波形也会异常、但看起来 HS-HO 首先发送一个导通信号、以便引导电容器上的电压下降、 然后 VDD 为引导电容器充电、其电压升高。

    当输入端出现振铃时、驱动器 IC 是否异常? 但我们已将驱动器 IC 的 VDD 与输入断开、只有当引导电容器放电时、它才会受到影响。

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    你好、

    感谢您提供有关一些更改后结果的更多信息。 我想澄清一个信号、Vin、这是驱动器的 VDD 输入吗?

    如果是这样、则会出现非常高的 p-p 噪声、尤其是在缩放图的区域。 您提到您已断开驱动器 IC 的 VDD 与输入。 这是否意味着您断开了电路板上的偏置电源、并且正在为驱动器 VDD 使用外部偏置电压? 此部分不清楚。

    如果驱动器 VDD 上的噪声过大、则可能会导致驱动器 UVLO 误跳闸、从而导致意外行为、应避免这种情况。

    看起来可能会有明显的噪声注入到驱动器 VDD (如果这是 Vin 信号)或接地反弹、这是驱动器偏置上的 p-p 噪声的一个问题、 但也表明驱动器 IC 引脚上可能存在接地噪声、从而影响驱动器引脚信号、尤其是驱动器输入。

    请尝试确认一些事项以清除驱动器 VDD 噪声。 尝试在偏置源和驱动器 VDD 电容器之间添加一些电阻、这将作为驱动器上 VDD 的滤波器、尝试在偏置端添加与驱动器 VDD 电容串联的5至10欧姆电阻。 另外、如果对于额外的高频旁路、尝试添加一个与 VDD 电容器并联的高频电容器100nF。  

    我看到引导电容器显著降低、但仍然确认引导电容器是否需要为0.47uF 或更低的值是否足以驱动 MOSFET Qg。 较低值的引导电容将从 VDD 电容充电更快、并且 VDD 上的电压扰动更小。

    确认 VDD 和 HB 电容器位于驱动器 IC 引脚附近、并使用短迹线进行连接。

    如果您仍有问题、我建议提供电路驱动器和 MOSFET 区域的原理图和布局、以便我提供更多更详细的建议。

    此致、

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    感谢您的回复。

    是的、我已经从输入上断开了驱动器 IC 的 VDD、并且它已经为驱动器 VDD 使用了一个外部偏置电压。

    (C1:VIN、C2:驱动器 VDD、C3:Ho-GND、C4:Lo-GND)

    根据波形的结果、当 VDD 和 Vin 断开连接时、会发生相同的情况、但发生的次数会减少。

    我们发现、当出现异常波形时、外部 VDD 提供的电压将下降。 但这不应影响 IC 触发 UVLO 功能(驱动器 VDD > 10V)。

    此外、HO 和 LO 的电压将随 Vin 变化。 原因是什么? 我已断开 Vin 与 VDD 的连接、VDD 的电压稳定。

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    你好、

    感谢您的状态更新。

    对于 HO 和 LO 的电压会随 VIN 变化的问题、原因是什么? 我不确定您的电压意味着什么会发生变化、但我要对此进行评论。 由于在 HO 和 LO 开关瞬变期间内部驱动器输出器件上的电压更高、因此 VDD 越高、驱动器输出上的驱动电流就越大。 您通常会在栅极驱动信号上看到更快的 dV/dt、而驱动器上的 VDD 更高。 确认这是否是您所参考的电压变化。

    最好了解动力总成开关节点波形或驱动器 HS 引脚与接地之间的关系、以及 LO 和 HO 输出上的意外脉冲。 您能否捕获波形以显示开关节点(HS 引脚)、Ho-HS 驱动器输出和 LO 驱动器输出。 捕获时基、以查看开关节点转换是否发生在接近意外脉冲的位置。

    您是否在驱动器输入引脚上尝试过 R/C 滤波器? 以确认可能没有示波器图上可能不清楚的某些驱动器输入信号干扰? 尝试使用22欧姆和100pF 作为起始值。

    我想知道是否存在可能导致 MOSFET Vgs 上电压扰动的栅极驱动布线/布局问题。 布线寄生电感会导致开关期间 MOSFET 米勒电荷产生较大的 Vgs 电压干扰。 作为实验、直接在 MOSFET 栅极和源极引脚上添加电容有助于减少这种 Vgs 干扰。 您能否尝试在 MOSFET 栅极和源极引脚上直接添加与 MOSFET Ciss 值相等的电容?

    我们临近冬季假期、因此我想提一下、直到新年、我们的覆盖面将不会那么大。

    确认这是否能解决您的问题、或者您可以在此主题上发布其他问题。

    此致、