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[参考译文] CSD19535KTT:如何实现良好的热抑制?

Guru**** 2380860 points
Other Parts Discussed in Thread: CSD19535KTT
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/871613/csd19535ktt-how-to-achieve-good-heat-rejection

器件型号:CSD19535KTT

如何在 采用 D2PAK 封装的功率 MOSFET CSD19535KTT 中实现良好的热抑制?

与 MOSFET 的基极面积相比、我将增大 PCB 上的铜面积、例如10%、20%、30%等。

同时、当我能够获得良好的热阻抗点时? 此外、我还想知道当我们继续增加 PCB 上覆铜的面积时、如何找到热抑制的饱和点。

当 PCB 上的铜面积增大时、热传递会产生什么影响?

此致、

Jnaneswar  

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    Jnaneswar、

    感谢您关注我们的 MOSFET。

    在我们的网站上,点击以下链接:

    ,您可能会发现许多有用的资源。

    有一 篇特别的技术文章值得您特别关注、文章的标题是"为您的应用选择合适的功率 MOSFET/电源块封装"

    本文介绍了典型应用中各种 MOSFET 封装的典型功率耗散能力。 但是、如文章所述、请记住、MOSFET 可以耗散的功率量在很大程度上取决于各个 PCB 设计和热环境。 气流越多、过孔越多、PCB 层越多、铜越厚、意味着 PCB 的热阻越低、PCB 中的散热越多。

    但愿这对您有所帮助

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    Chris、

    感谢您提供的有用信息、但如果与 MOSFET 的凸片面积相比、增加 FR4 PCB 顶层的覆铜面积、热流将如何影响、我能否详细了解? 您能建议 TI 提供的任何可供参考的应用手册吗?

    此致、

    Jnaneswar。  

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    Jnaneswar、

    遗憾的是、TI 没有提供应用手册。

    我在互联网上进行了快速搜索、发现了这篇可能由 IEEE 使用的论文。

    另一种实现方法是使用 FloTHERM 等热建模软件。

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    Chris、

    你在前一份答覆中所建议的文件,是考虑过热过孔的。 但我想知道 MOSFET 焊片下方的铜焊区的影响、而不考虑散热过孔。 我能否通过考虑过孔而不考虑过孔来获得有关铜焊区影响的信息?

    此致、  

    Jnaneswar  

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    Jnaneswar、

    我设法找到了一些数据、显示了2oz 铜层的单层 FR4电路板上的热阻、结至 PCB 以及漏极焊盘面积的关系。 x 轴上的面积以 mm2为单位。

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    Chris、

    我无法查看您在上次答复中发送的文件。 我能清楚地看到该文件吗?

    此致、  

    Jnaneswar

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    Jnaneswar、

    希望您可以读取该图像。

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    Chris、

    感谢您提供的宝贵信息。

    此致、

    Jnaneswar