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[参考译文] CSD18543Q3A：功率循环寿命曲线

admin
Guru**** 2382120 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/963709/csd18543q3a-power-cycling-life-time-curve

器件型号：CSD18543Q3A

您好！

您能否提供 此器件的功率循环寿命曲线？

此致、

Kuramochi

  • 0
    TI__Guru**** 2382120 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Kuramochi-San、

    感谢您关注 TI FET。 TI 在同一封装内的相似 FET 尺寸上运行了间歇性工作寿命(IOL)。 测试摘要：231个器件(3批次、每批次77个器件)上的10K 周期、2分钟打开和2分钟关闭、无故障。 温度差值为100C。 这是我们拥有的唯一数据。