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[参考译文] TPS23754:TPS23754 EMI

Guru**** 2731945 points

Other Parts Discussed in Thread: TPS23754

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/952517/tps23754-tps23754-emi

器件型号:TPS23754

您好、先生、

我的客户使用 TPS23754 12V2.5A 设计 遵循(slv4c)。

我们在30M~50MHz (空载)下存在 EMI 问题。

您有什么意见可以做吗?

另外、L3可以更改电感器值?  

我们还尝试使用相同的电感器值、但较低的 DCR 可以提高 EMI、但这还不够。

谢谢、Ian。

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    您好 Ian、

    这是非常高的频率噪声、远高于 IC 的开关频率。  

    EMI 的一个因素是共模电流。 增加共模电容器以提供帮助。 移除它们也会有所帮助、但这会使设计易受浪涌损坏的影响。  

    最大的因素之一是布局。 如果他们可以使用 EMI 监听器尝试确定电路板的哪些部分辐射最大。 请让客户查看此 EMI 指南:    

    另一种方法是使用/增加 EMI 扼流圈或铁氧体磁珠。 两者 均可串联使用。  

    另一个需要了解的重要内容是测试设置是一切。  

    最后、了解这种拓扑有四个开关 FET、因此总体 EMI 性能将更加困难。  您可以尝试向 FET 添加缓冲器、以减少漏极上的振铃。  

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    此致、  

     

    Michael P.

    应用工程师

    应用工程师  

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    您好、Michael、

    感谢您提供信息。

    对于 FET、减少振铃的位置是 低于4个圆圈的位置?

    谢谢、Ian。

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    您好 Ian、

    您圈出的组件控制 FET 时序。 它们会影响 EMI、但我讨论的是添加缓冲器。  

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    此致、  

     

    Michael P.

    应用工程师

    应用工程师