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[参考译文] CSD18532NQ5B:TJ 和结至外壳热阻

Guru**** 2382480 points
Other Parts Discussed in Thread: CSD18532NQ5B
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/897573/csd18532nq5b-tj-and-junction-to-case-thermal-resistance

器件型号:CSD18532NQ5B

我测量了 MOSFET 的温度外壳(Tcase = 92°C)、环境温度为60°C、此外、我知道 MOSFET 在此条件下的功率损耗等于1.054W

如何计算 MOSFET 的结温?

谢谢、

Lorenzo

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    您好 Lorenzo、

    感谢您的查询。 下面的链接指向一个介绍 TI MOSFET 热阻抗的博客。 对于该器件、数据表中指定的 RthetaJC 是在封装背面的散热焊盘上测量的。 这是从封装中去除热量的主要路径。 尽管我们没有将 RthetaJC 规格设计到封装顶部、但仿真显示 CSD18532NQ5B 的温度约为8摄氏度/瓦。 您可以使用外壳温度测量以及热阻抗来估算结温、如博客中所示。 如果在封装背面的散热焊盘处或附近测量外壳温度、则由于热阻抗较低、结温将在外壳温度的几度以内。 即使您测量封装的顶部、结温仍在~10摄氏度以内。

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    感谢您提供信息。

    根据您的信息、考虑到8 °C/W 封装顶部的 RthetaJC

    其中:

    TC =封装顶部的温度变化= 92°C

    Ploss = 1.054W

    然后

    TJ = 92 +(8*1.054)= 100.4°C

    对吗?

    谢谢、

    Lorenzo

     

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    您好 Lorenzo、

    假设所有耗散的功率都已从封装顶部移除、计算结果似乎是正确的。 实际上、将功率想象为电流、它将在顶部外壳和底部外壳这两个路径之间进行分配、热阻充当电流分压器、如我之前的答复中的博客图1所示。 更多的耗散功率(热量)通常通过封装背面的散热焊盘进入 PCB、然后进入环境。 如果我们假设60/40在底部和顶部之间分摊、则计算出的外壳到结温上升略低。

    https://e2e.ti.com/cfs-file/__key/communityserver-blogs-components-weblogfiles/00-00-00-03-59/3362.fig1.png

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    感谢您的进一步说明、

    因此、我的 Tj 计算是最坏的情况、可能实际 Tj 低于计算出的 Tj ... 最好保守、避免生产过程中出现问题!

    再次感谢您的信息。

    此致、

    Lorenzo

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    不用客气! 我将关闭该线程。

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    在关闭案例之前、请回答最后一个问题。

    请参阅您共享的文档、您知道吗?您能否为此 MOSFET 提供 ΨJT Ω、结至封装顶部。 它可能对我的分析非常有用。

    感谢您的协作。

    此致

    Lorenzo

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    您好 Lorenzo、

    很抱歉、TI 尚未进行特性描述和分析来提供这些热指标。 没有计划这样做。