This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] CSD88537ND:NexFET 结构

Guru**** 2380860 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/941355/csd88537nd-nexfet-structure

器件型号:CSD88537ND

尊敬的 PIC:

我们的客户询问我们 NexFET 结构、您能告诉我以下问题。

如果 MOS FET 在接合焊盘下方有元件、下面是否有任何证据支持层间绝缘膜结构在粘合应力下的强度和可靠性?

-接合焊盘的铝层厚度足够大(参考3um)。
-粘 接焊盘下方提供了一种金属屏障、以降低粘接应力(例如:锡/ TI)。
-已确认即使在最恶劣的导线键合应力条件(超声波功率、负载、温度等)下、层间薄膜也不会出现裂缝。
-执行可靠性评估可以检测间歇性缺陷,如负载波动监控器。

此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Kiroku-san、

    感谢您向客户推广 TI FET。 我将与包装团队核实您的客户提出的问题。 当我有更多信息时、我会向您更新。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Kiroku San、

    再次感谢您关注我们的器 件、遗憾的是、这些信息是我们器件的设计细节、被视为专有信息、不是我们可以在公共论坛中共享的信息。

    此类信息通常仅在保密协议(NDA)下共享。 我建议您联系您当地的 TI 代表以制定 NDA、然后我们可以就该主题进行更多讨论。

     

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Wallace San、Bull San

    你好。

    感谢您的信息。

    请注意、我将向 TIJ 成员提出申请。

    此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    谢谢您、我现在将关闭此主题并等待联系。