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[参考译文] BQ76940:铜离子迁移问题

Guru**** 2540720 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/947263/bq76940-copper-ion-migration-issue

器件型号:BQ76940

各位专家、您好!  

我的客户在其设计中使用了火花隙。 间隙为0.2mm。 他们还在 PACK+和 PACK-之间使用此方法。  但最近、他们发现 PCBA 上的一些 PACK+线  是碳化的。 他们以前没有遇到这个问题。  只在该设计中使用火花隙。  他们怀疑 这可能是铜离子迁移问题、因为这种极小的0.2mm 间隙。  请提出以下建议:

1. 使用火花隙时是否有任何注意事项? 电压与间隙之间有何关系?更具体一点、 如果 PACK+和 PACK-之间的电压为36V、则适用的间隙距离是多少。  

2.如果必须在火花隙上使用一些保护盖、问题可能出在哪?