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[参考译文] LM25088-Q1:MOSFET 和磁珠损坏

Guru**** 2502205 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/912878/lm25088-q1-broken-mosfet-and-bead

器件型号:LM25088-Q1

尊敬的先生:

我的客户使用 LM25088MH-1进行反相、如下所示。

输入电压:12V

输出电压:-2.5V

输出电流:-2.5A

有时、测试时 MOSFET (Q2)和 Bead (FB485、FB486)损坏。  

您可以帮助检查随附的原理图吗?

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    Dexter、

    我假设您是指 Q2。

    铁氧体还是 FET 过热? 电路是否违反了 FET 或铁氧体的绝对最大规格? 您还能向我提供哪些其他线索来说明造成损害的原因?

    Sam

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    尊敬的 Sam:

    请检查以下线索。

    1、假设 FET 和 Bead 在过热后因过流而烧坏。

    2. FET、Bead 在容量方面不是问题。 (FET 35A、-55℃~155℃/ Bead 600Ω 1A * 2ea)

    3.只有在安装车辆进行现场测试后,才会出现此问题。

    谢谢。

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    Dexter、

    导致过流的原因是什么? 负载是否短路? 或者、您是否认为 FET 发生故障、VIN 与 VOUT 短路、然后铁氧体电流过热?

    2.如您所述、输出电流为2.5A。 这意味着如果均匀共享、每个铁氧体磁珠将获得1.25A (不会完全共享)。 您可能需要至少1.5A 的铁氧体磁珠来处理此电流。

    3.如果为 true,则表示器件易受现场测试中只能看到的条件的影响。 哪些条件在现场进行测试、但在实验室中不进行测试? 负载突降、冷启动...? 这是否会在特定条件后失败?

    Sam