[参考译文] LM25011：插入与引脚1串联的铁氧体磁珠以进行 EMI 控制会熔断 IC。解决方案？

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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/912684/lm25011-inserting-ferrite-bead-in-series-with-pin-1-for-emi-control-blows-up-the-ic-solutions

器件型号：LM25011

欢迎 TI 工程师！我在最近用于 FCC 预扫描的产品中使用了 LM25011。它未通过预扫描、EMI 违规的原因已追踪到 LM25011。当然、我们已经开始拧紧电流迹线等、但为了快速解决这是否有助于清除预扫描、我们添加了一个与引脚1串联的铁氧体磁珠。它似乎降低了很多 EMI、因此我们决定将其保留在下一个设计版本中。但是、现在我们发现 IC 反复发泡。在我进行了一系列受控诊断测试(使用和不使用磁珠)之后(没有其他更改)、我看到没有铁氧体磁珠、通过突然将电路板输入插入热24V 电源来使 IC 急剧启动 (我这么做了50次)尽管输入连接器处有良好的火花、但不会损坏 IC。但是、在我介绍铁氧体磁珠时、如果我执行一个或两个此类热插件、IC 就会熔断。磁珠为1k。

该设计是从 Webench 仿真中获取的。输入为24V、输出为7V@2A。上述测试是在无负载的情况下完成的。

这是什么原因？是否有任何建议/见解/建议？

TIA！

最佳- RAM

5 年多前

0 admin 5 年多前

TI__Guru**** 2390755 points

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你(们)好

在 PIN1中添加一个磁珠就是添加一个电感器、当主 FET 关断时、该电感器将使其超过稳定状态。您可以尝试在输入陶瓷电容器前面添加磁珠、以查看 EMI 的改善。这将有助于 EMI 并使输入陶瓷电容器靠近 VIN 引脚、与 VIN 引脚前面的磁珠相比、主 FET 的应力将更小。

谢谢

0 admin 5 年多前

TI__Guru**** 2390755 points

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谢谢@Daniel Li14。我确实想知道、无害的小铁氧体是否会产生足够的电感来引起问题、但我选择忽略这一想法。我应该更信任我的本能:-)。当然、您的建议效果很好。输入电容为1uF、为了增加安全性、我添加了几个0.1uF 的并联电容。它在使用1k 铁氧体时工作正常。我可能还会尝试2k 铁氧体。

再次感谢！

最佳- RAM

电源管理（参考译文帖）

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电源管理（参考译文帖）

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[参考译文] LM25011：插入与引脚1串联的铁氧体磁珠以进行 EMI 控制会熔断 IC。 解决方案？

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