[参考译文] BQ25895：老化电池的充电终止检测

尊敬的 David：

充电终止检测基于流经充电器 IC 内部 BATFET 的电流和在 VBAT 上检测到的电压。 当 VBAT 电压高于再充电阈值并且 IBAT (电池电流)值降至充电终止阈值以下时、充电将被禁用。 当充电终止时、由于 VBAT 引脚和电池端子之间的阻抗、VBAT 上通常会出现小压降。 理想情况下、当电池靠近 VBAT 引脚时、该阻抗尽可能低、但老化的电池可能具有比其原始条件更高的阻抗。  

如果电池阻抗增加、一旦充电终止、VBAT 上的压降就会更大、因为当电池端子的电压低于正常电压时、IC 内部将达到最大充电电压和终止电流。 如果您的电池老化到充电终止电压下降导致 VBAT 引脚电压在充电周期完成后降至再充电阈值以下的程度、您可能会遇到充电周期开始和停止频率高于所需频率的情况。

再充电阈值可设置为比电池充电电压目标低200mV、以避免这种行为(软件解决方案)。 此外、建议尽可能降低电池和 VBAT 引脚之间的阻抗、方法是使电池保持相对靠近引脚(硬件解决方案)。 这两种方法结合在一起有助于创建一个能够抵抗电池老化效应的系统。

除此之外、主机控制器可用于选择不同的电池充电限制、并且充电器 IC 具有一个集成的安全计时器、如果充电周期未按预期终止、则会在设定的时间段后禁用充电。

数据表 参考部分：

8.2.7电池充电管理

8.2.7.3充电终止

8.2.7.6充电安全计时器

此致、

James

尊敬的 James：

感谢您的详细解释、非常感谢！

此致、
David