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您好 TI。
我正在使用2s Panasonic 18650 3400mAh 开发电池产品。
我使用 CEDV 工具为 IC 监测计 BQ28z610生成参数、并收到如下报告:
由 FIT 生成的 CEDV 参数。 如果 EDVV 位被设定为1、在写入数据闪存时、EMF 和 EDVR0必须被串行电芯的数量乘以
EMF 3432
EDVC0 115
EDVC1 0
EDVR1 221.
EDVR0 248.
EDVT0 1
EDVTC 9.
VOC75 7871
VOC50 7617
VOC25 7504
EDV2点的建议 SOC 偏差容差在低温条件下小于5%、在室温和高温条件下小于3%
下面给出了每个文件的这组参数的偏差
文件 SOC 错误、通过百分比
roomtemp_lowrate.csv 5.00225727694781 0
roomtemp_highrate.csv 5.06095594541465 0
hightemp_lowrate.csv 4.39073900605317 0
hightemp_highrate.csv 4.87151740386402 0
lowtemp_lowrate.csv 0.246891740120791 1.
lowtemp_highrate.csv 2.0615723318612 1.
警告:偏差高于建议水平。 使用不同的设置重试时基故障、如果您的应用程序可以接受精度、则自行承担风险
但我不知道如何将这些参数应用到 IC BQ28z610中。 我在 BQ28z610数据闪存中找不到它们。
请帮帮我。
谢谢。
TAM。