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[参考译文] CSD17308Q3:功率 NFET 的运行方式类似于 SCR、赢得和#39;t 关闭

Guru**** 2390755 points
Other Parts Discussed in Thread: CSD17308Q3, CSD25402Q3A, TINA-TI, CSD17578Q3A

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/769324/csd17308q3-power-nfet-behaves-like-an-scr-won-t-turn-off

器件型号:CSD17308Q3
主题中讨论的其他器件: CSD25402Q3ATINA-TICSD17578Q3A

我在 设计的九个地方使用 CSD17308Q3。  其理念是使用 独立的隔离式直流/直流转换器(输出9V 以实现最小 Rds-on)来控制每个 CSD17308Q3的 VGS。  我注意到、其中许多浮动直列式 NFET 具有陌生的 SCR 行为、具体取决于负载电流。  我尝试通过增加栅极和源极之间的无源电阻来修补设计。  这种情况有效(对于1.5A 输出负载、使用500欧姆的外部 RGS)、直到我需要进一步增加负载电流(大约3至5安培)。  现在、当 输出负载为3安培或更大时、似乎没有外部 RGS 的组合使 CSD17308Q3关闭。  是否有相同封装(3.3mm 方形)的备用功率 NFET 可替换 CSD17308Q3?  还有什么其他技巧、让 CSD17308Q3 停止像硅控整流器(SCR)一样的行为?  我注意 到、当它拒绝关闭(Vgs ~ 0V)时、一旦我关闭漏极电压源、然后将其重新打开、CSD17308Q3就会正确保持关闭状态。  但是、如果它在3A 或更高的电流下导通、我无法使它关闭(关闭漏极电压是欺骗行为)。  请帮助!

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    您好、Aaron、
    您能否分享一个原理图或方框图、说明如何在电路中使用 FET? 您是否将 FET 用作高侧(即浮动)负载开关、将漏极用作输入直流电源、将源极用作负载的输出? 为了使 NFET 在线性运行区域中得到增强、栅极必须被驱动至高于输入电压至少3V (数据表中规定了 RDS (ON)的最低 VGS)。 如果您使用与 VIN 相同的电压驱动栅极、一旦 FET 开始导通、源极电压就会快速上升至接近漏极电压(VIN)、并且 FET 的 VGS 将接近甚至低于 VTH。 在这些条件下、FET 可能处于饱和或截止区域。 请分享更多详细信息、我将尝试帮助解决问题。
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    您好、Aaron、
    再次感谢您关注 TI MOSFET。 另一种选择是将 P 沟道 FET 用作高侧负载开关。 在这种情况下、您将交换漏极和源极引脚、并将栅极拉至接地以导通 FET。 我们在同一封装中交换了 P 沟道 FET CSD25402Q3A 和漏极和源极焊盘。 您可以使用小型 NFET 或 NPN 下拉 PFET 的栅极、并通过电阻器上拉至连接到 VIN 的源极引脚。 请注意、此 PFET 的额定电压为-20V BVDSS 和+/-12V VGS。
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    所附为电路(九个子电路之一)的表示。

    e2e.ti.com/.../CSD17308Q3_2D00_SCR_2D00_behavior.tif

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    我认为我需要附上原理图(如下所示)。

    是的、将 NFET 用作高侧负载开关、漏极用作输入电源。  为了实现最佳(最低)漏源电阻、我使用了9V 的 Vgs on。 当然、在直流/直流转换器上具有最小负载的情况下、它可能会爬行至9.9V、但不超过10Vgs 要求。

    e2e.ti.com/.../5751.CSD17308Q3_2D00_SCR_2D00_behavior.tif

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    您好、Aaron、
    乍一看、该电路似乎可以正常工作。 您将直流/直流转换器的输出施加到 FET 的 G-S 上、并且您有一个1k 电阻器来对栅极放电并关闭 FET。 您是否捕获了任何(G-S、D-S、输入和输出)波形? 看起来导通工作正常、对吧? 在关断时、可能会与直流/直流发生一些交互? 我猜是栅极-源极未完全放电、FET 保持导通状态。 如果没有任何波形、我猜是因为原因。

    您对导通和关断的速度有任何要求吗? 我在 Recom 数据表中看不到任何内容。 转换器当然具有一些会影响时序的输出电容。

    我会谨慎地注意、运行电压非常接近 FET 的绝对最大 VGS 额定值。 直流/直流转换器输出上的任何过冲都可能超过绝对最大值并损坏 FET。 这可能发生在负载瞬态、启动和/或关断期间。 直流/直流的空载输出看起来可能会变得很高。 这是一个针对5V 栅极驱动进行优化的逻辑电平 FET。 如果将 RDS (ON)驱动到8V 以上、则不会大幅降低。 您可能需要考虑 FET 的 G-S 上的电阻分压器。
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    您好、Aaron、
    只是想跟进一下、看看您是否能够捕获任何波形来确定 FET 不关闭的原因。 我使用 TINA-TI 进行了简单的仿真、只要 FET 栅极-源极驱动至<1V 或更低、就不会看到任何问题。 我还想知道移除输入电压后、Recom 直流/直流转换器的输出放电所需的时间。 请告诉我还能做些什么来帮助我。
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    John、您好、感谢后续行动。  与 CSD17308Q3器件相比、我的印刷线路板布线和过孔似乎更独特。

    我今天很容易在工作台上重现问题、但有趣的是、首次上电和命令关闭似乎正常、但随后的每次上电和关闭似乎都不起作用(Q9 NFET 不是一直关闭)。

     我使用的是三路输出电源(6V@5A、1A 时的最大值为+-25V)。  因此、我为直流/直流转换器使用了适当的5V IN @ 62mA (在 Vgs 上产生了9.6V 电压、前提是增加了500 Ω RGS)。  在输出端使用23 Ω 负载时、导通状态显示了 Q9 NFET 在1.0A 电流下的25V VDS。   当直流/直流转换器被命令关闭(移除了5V 输入电压)时、Q9上的电流消耗降至0.87A、并且在 Q9的 Vgs 上测量了1.33V (500 Ω 的外部无源 RDS)。  然后、我在 Q9 RGS 上额外施加100欧姆的负载(与现有500欧姆并联)、使 RGS 总电阻达到约84欧姆。  然后 、当直流/直流转换器被命令关闭时、Q9线路确实正确打开(0A 拉电流)。  

    我们还在单独的 Q13线路(也是 CSD17308Q3)上使用了相同的25V 电源、以查看这是否会与 Q9路径出现相同的问题。  关断 Q13时从未出现任何问题(25V@1A 时、一旦移除直流/直流转换器的5V 输入电压、立即关闭)。

     我们还将电源更改为更强的6V 线(设置为6V @~3A)。  使用大约1.5欧姆的负载、我们看到 Q9路径从6V 电源汲取2.8A 电流。  但是 、当直流/直流转换器被命令关闭(移除了电源5V)时、Q9也会立即关闭( 6V@2.8A 关闭时没有问题)。

     

    总之:

    1. 在相同的条件下、从未出现过 Q13路径问题。
    2. 在25V@1A 时、Q9路径出现问题、不需要的 Vgs 为1.33V。
    3. 在 6V@2.8A 上未发现关闭 Q9的问题。
    4. 在25V@1A 条件下、通过100 Ω(总共84 Ω)的额外 RGS 修复了 Q9关断问题。

     

    因此、该问题确实显示在整个25V 电压下、在电压较低时可能不会出现问题。  @、随着电流减小(25V Δ I 表示0.5A)、我们没有看到开关关闭问题。  此外、我们没有使用另一个独立路径(Q13)重新创建问题。

    因此、选择 NFET 可能不是(完全)问题、 并且 Q9路径(PWA 走线、过孔、接近 Q9焊盘)可能会导致一些问题。  如果 Q9芯片稍微偏离中心、则会向栅极过孔处进行焊接漂移、这可能会产生不必要的寄生电阻?  我们在 Q9的栅极关断源上获得1.33V 电压(当 直流/直流转换器关闭时、输入功率设置为25V)这一事实很难忽略。  看看我们这里的 PWA、看起来 Q9通过一些偏心朝向栅极。  下一个实验尝试:移除 Q9、替换为"抖动 Q9"(使用 PWA 焊盘的1/2 "导线延长件)、并查看关断问题是否消失。

    在 VDS 为25V 的情况下、漏极到栅极(Rdg)的估计有害泄漏电阻可能约为9k Ω、从而导致 RGS (500 Ω)上的电压为1.33V。  永久无源 RGS 的电阻小于100欧姆是不可接受的、因此我需要消除这种 Rdg。

     


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    上面的排印错误:在 Q9的 Vgs 上测量了1.33V (500欧姆的外部无源 RGS)。
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    您好、Aaron、
    您可能有一条从漏极到栅极的路径、这似乎是合理的。 通常、如果您遵循 TI 建议的封装和焊锡膏开口、则由于回流期间液体焊料的表面张力、该器件将在焊盘上自行居中。 对设备进行返修时、请注意不要使其偏离中心。 此外、电路板上过多的通量或其他污染会导致泄漏、尤其是由于栅极是高输入阻抗。 请告诉我您的实验是如何工作的。
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    今天、我确实用您的竞争对手之一 NFET (额定 Vgs 更高)替代了高电流路径 NFET (26V@3A)。  该问题消失了、它在26V@3A 负载下正常关闭。

    在一个点上、我看到 CSD17308Q3栅源极电阻在高电流测试(损坏)期间大幅降低、其中一个下降到50欧姆、另一个下降到2欧姆。  拆下并更换这些 NFET 后、可实现正常预期运行(高电流期间关闭)。

    我可能会对某些栅极施加过压、从而导致最终故障。

    谢谢、

    Aaron

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    您好、Aaron、
    只要 VGS 超过绝对最大额定值10V、栅极氧化物就会损坏。 如果电压足够高、这可能会导致硬故障;如果器件在较低电压下面临多个过压事件、则可能会导致累积故障。 您是否测量了从电路板上移除的器件的 G-S 电阻? 由于您在 VGS 下运行时的电压非常接近限值、因此我建议使用额定电压为20V 的 FET:CSD17578Q3A。 导通电阻@ VGS = 4.5V 低于 CSD17308Q3、但其额定电压不是 VGS = 3V。 根据您的应用、您的驱动电压为9V、这应该是可以的。