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[参考译文] BQ24715:当 OS 空闲而没有重负载时、BQ24715泄漏电流

Guru**** 2531950 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ24715

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/791425/bq24715-bq24715-leakage-current-when-os-is-idle-without-heavy-loadings

器件型号:BQ24715

您好,

我们使用 BQ24715进行 nvdc 充电解决方案、当操作系统在两小时内空闲且无重负载时、电池将使其 RSOC 从100%下降至97%。

测试放电 MOSFET、栅极随机打开、最后打开2~4ms。 在这种情况下,电池 RSOC 会下降

检查 寄存器 而不进行更改。

您是否会确认充电 IC 放电或 充电 IC 无法持续锁存放电 MOSFET 的原因。

王福明

18664983545

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好!

    根据您的描述,您的系统可能偶尔从电池汲取大于256 mA 的放电电流。 这将导致 BATFET 导通、如数据表的第8.3.12节所述。

    为了确认情况是否如此、您可以尝试探测 BATDRV 和 ISYS、并查看 BATFET 导通的时间是否与系统负载消耗的较高电流的时间相对应。

    此致、
    Angelo