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[参考译文] DCR010505:DCR010505 FAIL_SYNC 引脚低电阻

Guru**** 657500 points
Other Parts Discussed in Thread: DCR010505
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/860594/dcr010505-dcr010505-failure_sync-pin-low-resistance

器件型号:DCR010505

您好,

我的问题与网站上的问题相同: https://e2e.ti.com/support/power-management/f/196/t/612580?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=DCR010505#pi320995filter=all&pi320995scroll=false 

在我更新 PCB 上的 DSP 软件并将其放回机柜后、5V 电源不可用。

区别在于 同步引脚在电路板上是浮动的,  -VS 的电阻可能为20Ω Ω。

请告诉我故障和故障原因是什么?

谢谢。

请参阅以下原理图:

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    您好!

    我将与一位应用工程师交流、他对此有更多信息。 由于是在假日季、因此将延迟响应。 请在下周之前尽早回答。  

    此致、

    Jimmy  

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    您好!

    遗憾的是、支持您之前提到的帖子的应用工程师不再与团队合作。 此外、DCR010505是我们15年前的传统器件的一部分、因此收集信息更具挑战性。

    下面说明了发生此类故障的几个可能原因:将 PCB 重新放置在电路板上后、器件可能会遇到电气过载(EOS)。

    • 确保输入电压/电流源能够承受初始浪涌电流
    • 确保设计符合所有数据表值
    • 如果系统设计用于热插拔应用(例如 USB)、请确保该设计能够承受热插拔的副作用、例如浪涌电流和电压骤降。

    此致、
    Alejandro

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    也许我们可以看一下您的原理图? (发现任何潜在的短缺问题)我们坚信、在 PCB 上将 DSP 放回时会发生 EOS。

    谢谢、
    Alejandro

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    您好,

    抱歉、我无法上传原理图、但我照如下所示拍照。

    也许故障是由于 EOS、但我如何确认它?

    更重要    的是、所有7个故障样本的批号均为7CZEG2H,是偶然的或某种?

    谢谢

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    我查看了您的原理图、一切似乎都正常。 让我们来尝试一下:将不工作装置上的阻抗与正常工作装置进行比较。

    1. 检查所有输入引脚上的阻抗。 探头连续性测试:
      1. -VS (-probe)到同步(+probe)=Ω μ m
      2. +VS (-probe)到同步(+probe)=Ω μ m
      3. -VS (-probe)至+VS (+probe)=Ω μ m
    2.  在探头反转的情况下执行导通性测试。 记录结果。 [示例:-VS (+probe)至同步(-probe)=Ω μ s]
    3. 比较故障结果与工作单元

    热插拔会在主控制器间歇性连接期间增加峰值脉冲。 下面的方框图显示了输入控制器 IC。 因此、通过执行上述建议的测试、结果可以得出主控制器过载(EOS)的结论。

    谢谢、
    Alejandro

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    我们能否获得 Alejandro 在前一封邮件中要求的测量结果的更新?

    此致、

    Jimmy

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    您好!

    一段时间以来、我们一直没有听到您的反馈。 您能否向我们提供有关 Alejandro 的一些问题/请求的最新信息?

    此致、

    Jimmy  

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    很抱歉耽误你的时间,结果如下 、我的板的方框图如下所示。

    无法正常工作的单元:

    1. -VS (-probe) 到同步 (+probe)= 28.8Ω μ A
    2. +VS (-probe) 到同步 (+probe)= 7.1MΩ μ A
    3. -VS (-probe) 至+VS (+probe)=∞Ω Ω
    4. -VS (+probe) 至同步 (-probe)= 28.8Ω μ A
    5. +VS (+probe) 到同步 (-probe)=∞Ω μ A
    6. -VS (+probe) 至+VS (-probe)= 7.2MΩ Ω

     正常工作单元:

    1. -VS (-probe) 到同步 (+probe)=∞Ω μ A
    2. +VS (-probe) 到同步 (+probe)=∞Ω μ A
    3. -VS (-probe) 至+VS (+probe)=∞Ω Ω
    4. -VS (+probe) 至同步 (-probe)= 15mΩ μ A
    5. +VS (+probe) 到同步 (-probe)=∞Ω μ A
    6. -VS (+probe) 至+VS (-probe)= 6.4MΩ Ω

    方框图:

    谢谢

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    很抱歉耽误你的时间、下面是我的 PCB 的结果和方框图:

    无法正常工作的单元:

    1. -VS (-probe) 到同步 (+probe)= 28.8Ω μ A
    2. +VS (-probe) 到同步 (+probe)= 7.1MΩ μ A
    3. -VS (-probe) 至+VS (+probe)=∞Ω Ω
    4. -VS (+probe) 至同步 (-probe)= 28.8Ω μ A
    5. +VS (+probe) 到同步 (-probe)=∞Ω μ A
    6. -VS (+probe) 至+VS (-probe)= 7.3MΩ Ω

    正常工作单元:

    1. -VS (-probe) 到同步 (+probe)=∞Ω μ A
    2. +VS (-probe) 到同步 (+probe)=∞Ω μ A
    3. -VS (-probe) 至+VS (+probe)=∞Ω Ω
    4. -VS (+probe) 至同步 (-probe)= 15mΩ μ A
    5. +VS (+probe) 到同步 (-probe)=∞Ω μ A
    6. -VS (+probe) 至+VS (-probe)= 7.1MΩ Ω

    方框图:


    谢谢。

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    您好!

    您的非功能单元是否有模式? SYNC 到 GND 的非功能单元上的阻抗低于预期。 最安全的结论是、这些器件经历了 EOS。

    此致、
    Alejandro

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    您好:

    在非函数单元中没有任何模式。我下一步应该做什么?

    谢谢

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    您好!

    我想在这里听到蜂鸣声、询问这些问题发生的频率、以及您是否可以用新单元替换故障单元并测试应用中的可靠性。  

    根据 Alejandro 的评论、他认为可以放心地假设设备可能因某种原因受损。 测试这种情况的最佳方法是使用一个新单元来了解故障率和可能导致 EOS 的运行条件。

    您能测试一下吗?

    此致、

    Jimmy