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[参考译文] TPS2660:短路测试中的内部导通 FET 损坏- dv/dt 引脚上的电容为2.2uF

Guru**** 2544370 points
Other Parts Discussed in Thread: TPS2660

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/864765/tps2660-internal-pass-fet-damage-in-short-circuit-test---2-2uf-cap-on-dv-dt-pin

器件型号:TPS2660

您好、E2E、

我们在启动时进行短路测试时、客户遇到内部 PASS FET 损坏问题。

我们发现它们在 dv/dt 引脚上放置了2.2uF 的电容。 在 dv/dt 引脚上将其更改为0.022uF 后、可修复损坏问题。

我们的问题是、dv/dt 上的压摆率设置为何会影响 FET 损坏。

请帮您解释原因吗?

此外、我们还使用原始配置测试了 TPS2660 EVM。 当我们施加大于 OVP 的电压时、我们可以看到 Vout 端子上出现一段时间的电压并关闭。 在 Vin 升高期间、内部 FET 看起来会导通、从而通过 Vout 处的电压。

当我尝试在开始时按 S2并为 Vin 加电时、我们不会在输出端子上看到任何电压。

如果客户在启动过程中未将 SHDN 引脚拉至低电平、原因是什么?如何避免此问题?

客户将 tps2660放置在后端 在 TPS2660导通内部 FET 以将电压传递到输出侧之前、 系统中没有任何拉低逻辑可在启动期间保持 SHDN 引脚。

如何避免此问题?

我们担心、如果在 tps2660和 tps2660上施加一定的过压能量、则会在启动期间通过此 OV 向系统传递、从而导致更高电压导致系统损坏。

BR、

Jason

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jason、

    当有直通内部 FET 时、您能否发送有关该引脚的原理图以及 TPS2660的 VIN、VOUT、IMON 和 FLT 引脚的波形?

    您可以通过电子邮件发送。