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[参考译文] TPS23754:TPS23754PWP EMI/RE 噪声问题

Guru**** 2756835 points

Other Parts Discussed in Thread: TPS23754

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/824669/tps23754-tps23754pwp-emi-re-noise-issue

器件型号:TPS23754

你(们)好

我们已经根据 TPS23754设计了我们的电路板。

在 FCC 认证期间、我们将在输出和反馈部分获得辐射发射。

在 FCC 测试实验室中、我们调试了噪声是由 POE 部分产生的。

请告诉我们如何降低电路板的噪声。

辐射频率:

1、55MHz

2. 47MHz

我们将附上原理图设计和辐射发射图像、供您参考。

e2e.ti.com/.../POE_5F00_Noise.zip

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    尊敬的 Ravi:

    我建议查看该频率下的任何振铃的开关和次级二极管。 然后、您可以填充/调整缓冲器。

    您还可以考虑增大 R201和 R533以降低初级 FET 的导通/关断速度。

    此外、由于您不使用 GAT2 (切换)、因此可以将 DT 连接到 VB、以便 GAT2不会尝试切换(可能是问题的一部分)。

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    您好、达尔文、感谢您的支持

    到目前为止、我们已经做了一些更改。

    我们已将 R201的价值提高到72E、并提出以下观察结果

    •  在低负载下(以 mA 为单位的功耗)-噪声水平相对较低
    • 在12V@1A 时、输出侧的噪声水平会增加。

    我们还尝试在 MOSFET C=330pf、R=10E &C515、C516、C517、C518=1000pF 之间添加缓冲器。 但仍会在输出端和靠近 MOSFET 处产生噪声。  

    请建议我们可以采取哪些措施来降低噪声。  

    附件是供您参考的屏幕截图。  

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    尊敬的 Ravi:

    我不确定 FET 和输出附近的噪声是什么意思。 是的、开关元件会辐射噪声;但是、从标准角度来看、辐射噪声是以太网电缆在连接时的辐射。 其理念是终端设备本身不会辐射、因为大多数终端产品都具有屏蔽外壳或屏蔽涂层。 无论最终产品中的任何噪声辐射到 RJ45输入端、该噪声都会从以太网电缆发出。 您的最终产品是否在测试期间封装、以及外壳是否被屏蔽?  

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    你好,达尔文

    是的、在测试过程中会封装产品。 我们得到了我们的 RE 和 CE 的结果、结果更糟。 请参阅随附的文件。 请建议我们如何访问 approvee2e.ti.com/.../0730_2D00_ISN.pdfe2e.ti.com/.../0729_2D00_RE.pdf

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    尊敬的 Ravi:

    如果您也遇到 CE 故障、您可以尝试添加与铁氧体磁珠串联的共模扼流圈。 您还可以尝试取消组装 C702和 R705以消除共模电流。

    否则、我们必须查看布局、因为这会导致 EMI 问题。

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    你好,达尔文

    我们还尝试 添加串联的共模扼流圈、并移除 C702和 R705。 但结果仍然相同

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    尊敬的 Ravi:

    这是非常令人惊讶的。 要么布局绕过共模扼流圈、要么电路板上缺少组件、但原理图上没有组件(尽管我只有 PoE 原理图和完整电路板原理图)。 您能否转发此内容? 如果不是组件、则必须进行布局或可能的设置。 您还能发送测量方式吗?

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    Ravi、自此主题上有活动以来已经有一个多星期了。

    您是否仍需要我们的帮助?

    谢谢、

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    Ravi、由于缺乏响应、我将关闭此主题。

    如果仍需要我们的帮助、请回复。  您的回复将重新打开该主题。

    谢谢、