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器件型号:TPS40170 我认为、当预偏置电平较高且 VBOOT 电平较低时、高侧 FET 无法导通。
在这种情况下、何时检测到 SCP?
在 VBOOT 电压电平上升足够后 FET 实际导通的时间是不是?
或者、虽然 FET 实际上并未导通、但它是内部导通时序吗?
此致、
Kohei Sasaki
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我认为、当预偏置电平较高且 VBOOT 电平较低时、高侧 FET 无法导通。
在这种情况下、何时检测到 SCP?
在 VBOOT 电压电平上升足够后 FET 实际导通的时间是不是?
或者、虽然 FET 实际上并未导通、但它是内部导通时序吗?
此致、
Kohei Sasaki
加文-圣
感谢你的答复。
我了解到、在 VBOOT 电压电平上升到足够高后、高侧 FET 实际上会导通。
我想知道 SCP 检测时序。
如果由于 VBOOT 电平为低电平而导致高侧 FET 无法导通、则是否在内部产生高侧导通信号时检测到 SCP?
当高侧 FET 无法导通时、我认为 Vin 和 SW 之间的电压差足以进行 SCP 检测。
或者、在 VBOOT 电平上升足够且高侧 FET 实际导通后是否检测到 SCP?
此致、
Kohei Sasaki