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[参考译文] LM5170-Q1：测量死区时间

admin
Guru**** 2442090 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1176226/lm5170-q1-to-measure-dead-time

器件型号：LM5170-Q1

专家您好！

我们 将测试 FET 的死区时间。

但我们 不确定如何设置死区时间测量。

您能否分享以下波形等测量死区时间的标准？

如果可以在下面的波形中选择一个器件作为标准器件、请将其选中。

或共享基准波形。

此致、

Michael

  • 0
    TI__Guru**** 2442090 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Michael、

    顶部的紫色和绿线显示了如何测量死区时间。

    如果使用自适应死区时间、则器件会与基准信号相比检查驱动器输出端是否存在1.5V 电压、然后死区时间开始。

    此致、
    Brigitte