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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1172365/bq76942-bq76942-6k-esd-test-will-wake-up-during-shutdown-mode
你(们)好
客户使用自己设计的 BQ76942板进行测试。 他们发现、电池组进入关断模式后、在 P+上执行+8K (AIR)静电 ESD 测试、它将被唤醒。
在正常模式下、执行相同的测试是正常的。
如何解决此问题？
正在等待您的回复。
谢谢
星号
尊敬的 Star：
如果在器件上执行 ESD 测试、即使器件未损坏、BQ76942的 LD 引脚仍会出现上升电压、这将触发唤醒。 如果您希望器件在发生 ESD 唤醒事件时再次关断、则可以在 OTP 中对自动关断功能进行编程
TRM 的自动关断说明如下： 作为一种对策、当将 BQ76942器件置于长期存储器中时、避免意外地从关断模式唤醒、 如果器件从关断模式引导而没有发生任何有效通信或检测到任何充电或放电电流、则可以将器件配置为在电源：关断：自动关断时间分钟后自动重新进入关断模式。
第13.4.1.8节 TRM 的电源：关断：自动关断时间包含更多信息。 以下是 TRM： BQ76942技术参考手册(修订版 B)的链接(TI.com)。
希望这对您有所帮助！
最棒的
Andria
您好、Andria
感谢您的回复。
客户重新配置 了参数和 OTP。
电源：关断：自动关断时间设置为1min、MCU 程序上电复位的初始化延迟了2s。
在实际测试过程中、发现 FET 将在从关断状态异常唤醒后的1分钟内关闭、但它将在1秒后重新打开。
导致此问题的原因是什么？
当器件从关断模式异常唤醒时、FET 将导通、但它们将再次关断、如果 PACK 和 LD 引脚上的电压保持低电平、则器件将重新进入关断模式、如您所观察到的。
下面是 技术参考手册第13.4.1.8节"电源：关断：自动关断时间"中的一段内容、可帮助解释这种情况：
作为意外从关断状态唤醒的对策、该器件可配置为在该参数定义的几分钟后自动再次进入关断状态。 如果通信在第一秒后发生、或者检测到充电电流、或者在一分钟后检测到放电电流高于睡眠电流阈值、则会取消自动关断。 如果没有发生这些事件、那么经过这几分钟后、FET 将关断长达5秒。 在这5秒内、如果 PACK 和 LD 引脚电压下降、器件将进入关断状态。 如果这些引脚上的电压保持在其各自的阈值以上、则会根据存在充电器的结论取消自动关断。
为了确保器件已重新进入关断模式、您可以检查 REG18引脚上的电压。 当器件处于关断模式时、其电压应为0V、否则为1.8V。 我希望这对您有所帮助！
