主题中讨论的其他器件:GPCRB、 BQSTUDIO
您好!
我目前正在诊断 DUT 上的问题,在几个电池周期后,FullChargeCapacity 显著下降。 这会导致器件运行时间缩短。 我知道 FCC 是动态的、在运行期间会发生变化、但 FCC 的减少似乎过多。
我最初以为 FCC 是根据温度变化重新计算的。 在查看温度变化时、我们发现电池温度取决于电池电流。 电量监测计的接地基准位于系统侧,因此感测电阻和电池接地路径上的压降将与热敏电阻电压相结合。 我们发现 DUT 和 EVM 上都存在这种依赖关系、但在较小程度上依赖于 EVM。 当我们从放电转换为充电时、我们看到高达15°C 的温度变化。 这种温度变化是由上述电流依赖性以及电池冷却引起的。 我们运行了一个实验、在该实验中、我们使用固定电阻器替换了热敏电阻、电池温度恒定为25°C。 不过、我们观察到 FCC 值显著下降。
我们使用 GPCRB 工具来选择我们的 Chem ID、并使用 EVM 上的电池运行学习周期。 连接的是我们的黄金负载。
除了温度变化、我认为路径电阻可能会影响 FCC 计算。 我们的系统似乎具有比 EVM 更大的路径损耗。 是否有方法补偿 EVM 上的路径损耗?
我们已经在 DUT 上完成了所有测试。 我们使用自己的工具登录 DUT。 我们仅记录以下寄存器:FCC、SOC、电压、电流、RM、 电流和温度。 我可以共享这些日志、但它们只有部分信息。
我将开始在 EVM 上进行测试并使用 BQStudio 收集日志。 请告诉我您需要哪些其他信息来解决此问题。
谢谢
John

