[参考译文] BQ25155：在有源电池模式下、VBAT ADC 读数值不正确

电源 BTW 时、LP 始终为高电平、而仅使用电池进行测试

您好、Peter、

寄存器配置过程中的所有内容都是正确的。 VBAT 的 ADC 读取电压不应受 VIN 的存在影响。 您能否共享此器件的原理图？

此外、您还有 VBAT 波形吗？ 这只是为了消除任何可能影响 ADC 读数的振荡或毛刺脉冲。

此致、

Juan Ospina

尊敬的 Juan：

我使用 BQ25155EVM 进行测试、并在测试时使用示波器监控 VBAT、在 VBAT 上未观察到1V 干扰

BR

Peter

尊敬的 Peter：

我将尝试重新创建您在我的末尾看到的行为 如果对 EVM 进行了任何修改、请告知我。

此致、

Juan Ospina

尊敬的 Juan：

没有对 EVM 进行硬件修改、以下是我的初始化流程~

void bq25155_init()｛
printf ("%s\r\n"、__func__)；

//1)唤醒 bq25155 -#LP 引脚(PB0)设置为低电平
HAL_GPIO_WritePin (CHG_LP_GPIO_Port、CHG_LP_Pin、GPIO_PIN_RESET)；

//2) INIT 寄存器
BQ25155_RegWrite (BQ25155_MASK0、0x5C)；//PG、THERM_SAVITY_CHG_DONE
BQ25155_RegWrite (BQ25155_MASK1、0xB0)；//TS
BQ25155_RegWrite (BQ25155_MASK2、0x31)；//ADC_READY、COMP1
BQ25155_RegWrite (BQ25155_MASK3、0x70)；//MR_WAKE
BQ25155_RegWrite (BQ25155_VBAT_CTRL、0x3C)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ICHG_CTRL、0x11)；/0x11
BQ25155_RegWrite (BQ25155_PCHRGCTRL、0x01)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_TERMCTRL、0x0A)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_BUVLO、0x00)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_CHARGERCTRL0、0x90)；//禁用 WD
BQ25155_RegWrite (BQ25155_CHARGERCTRL1、0x00)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ILIMCTRL、0x06)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_LDOCTRL、0xEC)；//启用3.3V LDO
BQ25155_RegWrite (BQ25155_MRCTRL、0x68)；//wake1-0.5s、wake2-2、reset-4S、warn-1s
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ICCTRL0、0x10)；//禁用运输模式
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ICCTRL1、0xC0)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ICCTRL2、0x20)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADCCTRL0、0x00)；//首先禁用 ADC
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADCCTRL1、0x00)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADCALARM_COMP1_M、0x91)；//将 ADC COMP1设置为 VBAT 低阈值 MSB
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADCALARM_COMP1_L、0x10)；//将 ADC COMP1设置为 VBAT 低阈值、低于3.4V
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADCALARM_COMP2_M、0x00)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADCALARM_COMP2_L、0x00)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADCALARM_COMP3_M、0x00)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADCALARM_COMP3_L、0x00)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADC_READ_EN、0x08)；//启用 VBAT ADC 读取
BQ25155_RegWrite (BQ25155_TS_FASTCHGCTRL、0x34)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_TS_COLD、0x6f)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_TS_COOL、0x61)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_TS_WARM、0x39)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_TS_HOT、0x38)；

//4)引导完成- LED 慢速闪烁 x 1
//led_control (LED_SLOW_BLINK、1)；
BQ25155_RegWrite (BQ25155_ADCCTRL0、0xC3)；//启用 ADC 测量周期1min

//5)切换 CHG IRQ
CHG_INT+=1；
HAL_GPIO_WritePin (CHG_LP_GPIO_Port、CHG_LP_Pin、GPIO_PIN_SET)；
｝

BR

Peter

感谢 Peter 提供的这一附加环境。 我将尝试重新创建您的方案、并找出您所看到行为的任何潜在原因。

此致、

Juan Ospina

尊敬的 Peter：

我一直在努力重新创建您的方案、但 我无法看到所提供的寄存器设置的精度有任何问题。 在 EVM 上、移除 VIN 后、电池 ADC 电压读数将略有下降、但这可能是由于充电停止所致。 您能否提供原理图来确认没有 任何可能产生影响的组件？ 此外、该测试是使用电池还是电池仿真器执行的？

此致、

Juan Ospina