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[参考译文] TLV733P:用于计算结温的 PSIJT 和 PSIJB 参数

Guru**** 2387080 points
Other Parts Discussed in Thread: TLV733P
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/615850/tlv733p-psijt-and-psijb-parameters-for-calculating-junction-temp

器件型号:TLV733P

我的客户正在使用 PSIJT 和 PSIJB 参数来计算其设计中 TLV73318PDQNR 的结温。  它们使用的热敏电阻位于 IC 外壳和 IC 正下方的接地端。

在运行期间、它们 的数据显示了73.8C 时的接地温度和 电流为210mA 时芯片顶部的88.2C 温度。   功率耗散为0.315W (3.3Vin 至1.8Vout @ 210mA)。  

使用 PSIJT 、芯片温度 的计算公式为 :88.2C +(5.6C/W x.35W)= 89.964C (环境温度为23.3C)。

 

使用 PSIJB 计算结温为 : 73.8C +(163.9C/W x .315W)= 125.4 C

1) 它们的计算为何会有这样的差异?

2) 这些计算和/或其设置是否有效?

 

3) DQN 封装中 TLV733P 的 PSIJB 参数明显高于 SOT-23封装的 PSIJB 参数(163.9C/W 与54.8C/W)。 这与直觉相反、因为 DQN 封装的底部有一个外露焊盘、该焊盘应能更好地传导热量。 这些值是否正确?

4) 使用 PSIJB 进行的计算是否假定散热器完美无其他热源? 客户电路板具有许多其他有助于电路板温度的热源。 这是否会影响计算?

 

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Allen、

    以下应用报告讨论了测量方法:

    如需更多信息、请访问   

    非常尊重、

    Ryan

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    您好、Ryan、

    您能否确认 PSIJB 编号的有效性? DQN 和 SOT-23封装之间的参数差异看起来并不直观、因为 DQN 封装底部有一个外露焊盘、应该更好地传导热量。 这些值是否正确?

    是否存在其他热源会导致测量中出现问题? JEDEC 51-6标准不清楚其他热源是否会使该测量结果变得混乱。

    谢谢!
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    您好、Allen、

    数据表中的 PSIJB 数据与热建模团队的调查结果一致。 需要记住的一点是、DQN 上的散热焊盘很小。 此外、还有其他不太直观的因素会影响热指标、例如引线框、模塑化合物、封装中的芯片方向/位置、裸片连接材料等

    JEDEC 测量仅在具有 LDO 的特定电路板上完成;因此、不考虑额外的热源。

    非常尊重、
    Ryan
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    您好、Ryan、

    请建议在客户电路板上估算此器件结温的最佳方法。

    此外、Arris 还想知道、当器件在125°C 裸片温度以上运行时、我们是否开始对其进行可靠性/寿命分析? 在某些环境和用例中、该器件可在超过125C 的裸片温度下现场运行。

    请提供建议。

    谢谢