请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：TPS3808 大家好、团队、
代表客户发布：
实际上，我正在尝试进行一些最坏情况分析，将 TPS3808与33nF 设置电容器结合使用。
我使用数据表的方程(CT (nF) TD =[(s)–0.5×10-3 (s)]×175)并查看我的电容随温度和容差的变化情况。
这是对计时器延迟输出进行建模的最准确方法吗？
我提出这一问题是因为查看第6.6节 TD 复位延迟时间、CT 值的输出似乎有大约~40%的变化。 是否应将此差异添加到计算中、还是仅在测试条件中添加此差异？
我最初的假设是、电容变化的公式是使用220nA 精密电流源和1.23V 基准来控制内部电路的最佳方法。 我看不到基于器件的40%差异。 此外、图3在整个温度范围内看起来非常线性、展示了器件的稳健性。
此致、
Renan
