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[参考译文] BQ35100:90.000写入后、累加容量寄存器不会改变

Guru**** 2535750 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ35100

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1188324/bq35100-after-90-000-writes-the-accumulatedcapacity-register-does-not-change

器件型号:BQ35100

bq35100用于公司的主要产品中、以测量工作模式下消耗的 UAH。 使用累加器模式。 我们有一个器件已经向闪存写入了大约90.0000次;最后一次累积的读取容量为4262200296 = FE0C 03E8。

我们检查了 bq35100上的状态寄存器、发现值0x2081 = 0010 0000 1000 0001。 位15设置为零、表示器件未检测到写入数据闪存失败。

值得注意的是、在我们的案例中、观察到累加能力寄存器从 FFFF FFFF 向下计数到0 (在我们的案例中、最小长度为 FE0C 03E8)。 根据数据表、累加器从0上升到4.29E9、满时不会翻转。

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    每次写入时、闪存都会磨损。 我会将其归因于闪存故障。 以下是支持此结论的数据表片段。

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    尊敬的 Shrish:  

    我知道最大写入周期为200.000。 但是、正如我之前所说的、我们写入了90.000、状态寄存器不指示写入错误。 有关详细信息、请参阅我之前的消息。

    是否因为累加器寄存器未累加而错误地使用累加器、而是减少了该数量? 为什么寄存器只使用90.000而无法进行更多的写入?

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    您好 Leandro、

    数据表中的写入周期为20000、而不是200000。

    但我看到 TRM 有200000。 TRM 中的示例也不能正确地相加。 我将分配此主题以解决问题。

    由于 FLASHF 位未被置位、让我们尝试看看还会发生什么情况。 当 AccumulatedCapacity ()的最新值写入闪存时、应设置 G_DONE 标志。 能否检查是否设置了 G_DONE 标志?

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    抱歉、我误读 了 BQ35100PWR 的最大值。  

    我这里没有硬件来再次检查 G_DONE。 但是 代码在关闭 bq35100之前会检查该位、我 不记得该部分代码中有任何错误。  

    了解累加能力寄存器不会累加的原因会很有趣。
    感谢你的帮助。   

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    您好 Leandro、

    跟踪的闪存写入次数是多少? 数据表中的最大值为20、000、这是我们预期的最小值、通常我们可以得到更高的值、但某些器件可能会在20、000到200、000之间的某个点发生故障、尽管不太可能。

    闪存写入的总数包括所有闪存写入、而不仅仅是一个特定寄存器的写入。 因此、如果您修改其他闪存项、则计数可能会超过90、000。

    您能否分享故障器件的 SREC 供我们审核?

    此致、

    Wyatt Keller