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[参考译文] CSD86350Q5D:可靠性数据

Guru**** 1826660 points
Other Parts Discussed in Thread: CSD86350Q5D
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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/696107/csd86350q5d-reliability-data

器件型号:CSD86350Q5D

您好!

此器件是否有任何 HTOL 测试数据?  谢谢。

此致、

Joe

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    Joseph、

    感谢您的提问。

    我们没有 此产品的 HTOL 测试数据。  功率 MOSFET 测试的行业标准不是 HTOL。

    我们执行间歇性工作寿命测试(IOL)、在该测试中、我们将器件偏置为自发热、以在 10K 周期内驱动 Tj=100C 的增量、导通时间为2分钟/关断时间为2分钟。

    CSD86350Q5D 通过 IOL 3个批次。   

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    Joseph、

    除了 IOL、我们还执行以下测试:

    额定 Vds 为150C/80%时的高温反向偏置(HTRB)、1K 小时:通过3个批次
    额定 Vgs 为150C/80%时的高温栅极偏置(HTGB)、1K 小时:通过3个批次
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    谢谢 Steve!
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    Steve、

    您知道批量大小吗?

    此致、

    Joe

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    Joe、
    批次大小为77件/批次。