[参考译文] TPS735：TPS73501上 DAC 的外部 FB 问题

尊敬的 Frank：

首先、他们将 C148放置在错误的位置。 我想他们打算添加一个前馈电容器、但前馈电容器从 VOUT 连接到 FB (对于合理的现代器件、旧器件是从 ADJ (或 FB)连接到 GND)。 实际上可能导致器件变得不稳定。 10pF 可能足够小、不会注意到它、因此可能他们只是幸运而已。 我建议完全移除此电容器。 此外、数据表指出、需要前馈电容器来实现稳定性。 他们是否发现有不稳定的迹象？  

听起来问题与 VOUT 的切换速度有关。 当器件输出变为3.3V 时、它是否停留在那里？ 还是只是脉冲至3.3V 然后稳定下来？  

是否有任何波形显示这种行为？

谢谢。

Nick

客户反馈：

移除 C148后、该行为不会发生变化。 即使根据数据表应是>3pF Cff，>1000 PCB 也不存在稳定性问题。 我的10pF 不应该是 Cff、但可以降低 VREF 输入端的噪声。 我可以想象、C148的增加将解决"跳跃问题"、因为它会降低 VOUT 的变化率、而这可能会降低控制稳定性。 我将进行测试。 听起来问题与 VOUT 的切换速度有关。 完全正确！ 并且仅影响少数 PCB。 在校准传感器时、SW 使这个较大的 DAC 只能从1900年跳到4000次。 以后再也不会来了。 DAC 突变然后小于+500。 对于 DAC 从大值跳到小值的情况、无论跳转高度有多高、一切都始终正常。 用 DAC、步长为1000：一切都正常 VOUT 执行它应该执行的操作、也是稳定的。 DAC 值= 4095：= DAC 处的3.0V  

使用步骤4000中的 DAC 时：电压 Vout 变为3.24V (而不是0.2)电源电压并保持稳定。 没有什么东西在挥动。 对于 DAC、步长为2000相同。 步骤1500工作。  

从高电平->低电平->高电平启用：然后电压转到正确值0.2V  

尊敬的 Frank：

感谢波形和进一步的说明；我现在了解这个问题。  

您是否也尝试过捕获 VFB 的波形？ 实际发生的情况对我来说似乎与直觉不符；当 DAC 输出从低电平转换为高电平(0 -> 3V)时、在短期内、FB 电压会上升、而 VOUT 保持在初始调节点、因为输出电容保持该电容。 在这种情况下、器件将关闭通道、直到 VOUT 下降到足以使 VFB 再次正确调节为止。 在这里、通道锁存到完全开启时、似乎发生了相反的情况。 我想知道某些波形(放大得更多以显示瞬态行为)是否会使人们对所发生的情况有所了解。  

您可以尝试使用更大的 C148、但要对此小心。 即使器件没有变得完全不稳定和振荡、在这里进行的转换也可能会导致更多的"振铃"和过冲。  

此致、

Nick

客户反馈：

目前、我无法使用电压示波器进行测量。 下周我会有第一个选择。 目前是通过板上的 AD 转换器进行测量的、在这里只能测量分辨率为20ms 的电压 Vout 和 IR_DAC。 我怀疑经典的闩锁效应、即寄生晶闸管在 VFB 输入端因正尖峰而点燃。 C148可用于减少此尖峰。 为什么只有1-2%的 IC 做到这一点仍不清楚。 C148 =100nF、则 DAC 跳至3000。 之后、它们不再可靠。 但是 Vout 的噪声对我来说太大了。 100nF 将安全地避免 VFB 上的尖峰。 这违背了我的晶闸管理论。 某些 IC 可能不喜欢短时间内 VFB 出现大电压变化。 我们首先用这种行为来整理 PCB、然后争取使用 SW 解决方案、这限制了跳转高度。